Главная страница  |  Описание сайта  |  Контакты
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ

Патент Российской Федерации
Суть изобретения: Назначение: изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов. Сущность изобретения: способ включает облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой. В процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца. Искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям. 2 ил.
Поиск по сайту

1. С помощью поисковых систем

   С помощью Google:    

2. Экспресс-поиск по номеру патента


введите номер патента (7 цифр)

3. По номеру патента и году публикации

2000000 ... 2099999   (1994-1997 гг.)

2100000 ... 2199999   (1997-2003 гг.)
Номер патента: 2011988
Класс(ы) патента: G01N27/60
Номер заявки: 4903991/25
Дата подачи заявки: 26.10.1990
Дата публикации: 30.04.1994
Заявитель(и): Ленинградский технологический институт целлюлозно-бумажной промышленности
Автор(ы): Юдин Б.И.
Патентообладатель(и): Юдин Борис Игоревич
Описание изобретения: Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов, и может быть использовано для изготовления элементов интегральной и градиентной оптики.
Известен способ определения параметров стекол по электросопротивлению в процессе их ситаллизации [1] .
Однако данный способ позволяет осуществить контроль и управление только в процессе отжига стекла. В процессе облучения этот метод не дает информацию, так как во время облучения не образуется кристаллическая фаза.
Наиболее близким по технической сущности к заявляемому способу определения параметров является Метод определения светочувствительных характеристик исходных стекол для получения фотоситалла.
В данном способе образец получают, подвергают термообработке и определяют параметры по непосредственному измерению зависимости коэффициента поглощения от длины волны и экспериментальным микрофотометрированием проявляемого изображения [2] .
Данный метод невозможно применить в процессе облучения образца и последующей термообработки. Кроме того, этот метод сложен, не дает достаточной точности и невозможен для получения образцов с заранее заданными параметрами.
Целью изобретения является повышение точности и упрощение способа определения параметров.
Цель достигается тем, что в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям.
Сущность изобретения заключается в следующем.
При облучении светочувствительного стекла в ультрафиолетовом свете число образуемых центров кристаллизации определяется временем экспозиции.
Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности образца от времени экспозиции. В процессе термообработки в облученном образце образуется кристаллическая фаза.
Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности от температуры и времени кристаллизации.
Способ осуществляется с помощью устройств, изображенных схематично на фиг. 1 и 2, где показаны образец 1 измерительная камера 2, электропечь 3, электрометр 4, самописец 5, оптическая щелочь 6, ртутная лампа 7.
Реализация способа происходит в двухстадийной технологической обработке: облучение образца в ультрафиолетовом свете с последующим термическим отжигом.
На первой стадии на образец 1 устанавливается металлический электрод и производится непрерывное измерение заряда поверхности. При достижении расчетного значения заряда процесс облучения прерывается. На второй стадии образец 1, находящийся в экранированной металлической камере 2 с электродом на поверхности помещают в электронагревательную печь 3. В процессе непрерывного измерения заряда поверхности определяют момент начала кристаллизации и время, за которое концентрация кристаллической фазы достигает расчетного значения. После этого процесс отжига прекращается.
Формула изобретения: СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ, включающий облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой образца и определение искомых характеристик, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям.