Главная страница  |  Описание сайта  |  Контакты
СПЕКТРОГРАФ
СПЕКТРОГРАФ

СПЕКТРОГРАФ

Патент Российской Федерации
Суть изобретения: Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения и может быть использовано в спектрографах, предназначенных для получения и регистрации атомных и молекулярных спектров при проведении различных спектроскопических исследований, для качественного и количественного эмиссионного анализа, в интерференционной спектрорефрактометрии и при решении других задач в области спектра 200-1000 нм. Сущность: спектрограф содержит расположенные на круга Роуланда вогнутую дифракционную решетку, входную спектральную щель с расположенными в одной плоскости тремя парами симметрично раздвигаемых ножей с независимой регулировкой ширины раскрытия, торцевые стыкуемые поверхности которых являются направляющими продольного перемещения ножей. Кассета снабжена двумя бипротяжными механизмами для перемещения пленки и диафрагмы. Основание кассеты выполнено с двумя концентричными пазами, причем наружный паз совпадает с фокальной поверхностью, а во внутреннем пазу установлена диафрагма с тремя пазами, расположенными по высоте встык соответственно ножам трехрядной входной щели, смещенными по горизонтали друг относительно друга более чем на длину одной прорези. 1 табл., 14 ил.
Поиск по сайту

1. С помощью поисковых систем

   С помощью Google:    

2. Экспресс-поиск по номеру патента


введите номер патента (7 цифр)

3. По номеру патента и году публикации

2000000 ... 2099999   (1994-1997 гг.)

2100000 ... 2199999   (1997-2003 гг.)
Номер патента: 2105273
Класс(ы) патента: G01J3/00
Номер заявки: 94028397/25
Дата подачи заявки: 22.07.1994
Дата публикации: 20.02.1998
Заявитель(и): Научно-исследовательский и технологический институт оптического материаловедения Всероссийского научного центра "Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова"
Автор(ы): Герасимова Н.Г.; Беляева Г.Г.; Смирнов А.П.; Храмов В.Ю.; Глебов Л.Б.; Богданов В.Г.
Патентообладатель(и): Научно-исследовательский и технологический институт оптического материаловедения Всероссийского научного центра "Государственный оптический институт им.С.И.Вавилова"
Описание изобретения: Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения и может быть использовано в спектрографах, предназначенных для получения и регистрации атомных и молекулярных спектров, при проведении различных спектроскопических исследований, для качественного и количественного эмиссионного анализа, в интерференционной спектрорефрактометрии и для решения других задач в спектральной области 200-1000 нм, например при определении показателей преломления и дисперсии оптических материалов с высокой точностью порядка 1·10-6 и 5·10-7 соответственно, когда спектрограф используется совместно с одноступенным эшелоном. В этом, например, исследовании необходимо измерять не только расстояния между интерференционными полосами в основном спектре, но и расстояния между полосами основного спектра и линиями спектра, расположенного в стыкуемом с ним по высоте спектре сравнения, например спектре железа [1], при разных спектроскопических и спектроаналитических исследованиях, требующих с помощью спектров сравнения отождествления спектральных линий основного спектра и т.д. [2].
Для выполнения аналогичных задач из существующих спектральных приборов используются, например, спектрографы ДФС-13 [3] и ДФС-8[4]. Они состоят из выходной спектральной щели, дифракционной решетки и кассеты с прорезью. Рабочая область спектра прибора ДФС-13 200-1000 нм. Участки спектра длиной по 240 мм устанавливаются поворотом дифракционной решетки вокруг вертикальной оси. На такой длине помещается участок спектра протяженностью 100 нм с решеткой 600 штр/мм и 50 нм с решеткой 1200 штр/мм. На фотопластинке размером 90х240 мм спектральная область 200-1000 нм изображается в виде ряда участков спектра, расположенных друг над другом. В спектрографе ДФС-8 спектральная область 200-1000 нм фотографируется также отдельными участками длиной по 180 мм. Размер фотопластинки 13х18 см. С решеткой 600 штр/мм можно сделать 8 кадров, с решеткой 1200 штр/мм - 16 кадров, расположенных друг над другом.
Наиболее близким по назначению и по совокупности существенных признаков является прибор ДФС-26, предназначенный для спектроскопических исследований, в том числе для получения и регистрации атомных, молекулярных спектров различных элементов и соединений [5].
Прибор ДФС-26 состоит из спектральной щели, дифракционной решетки, кассеты. Излучение от источника света через входную щель падает на вогнутую дифракционную решетку. Дифрагированные решеткой лучи фокусируются на фокальной поверхности, совмещенной с кругом Роуланда. Дифракционная решетка и входная щель неподвижно закреплены на круге Роуланда. Участки спектра устанавливаются перемещением каретки с кассетой размером 240х60 мм. На лицевой поверхности кассеты имеется прорезь для прохождения дифрагированного излучения. Каретка перемещается по направляющим вдоль круга Роуланда и имеет возможность передвигаться по высоте. Рабочая область прибора регистрируется отдельными участками, размещенными друг над другом. Число регистрируемых участков до 17.
Недостатки. Невозможность получения непрерывного спектра для всей спектральной области работы прибора. Невозможность получения нескольких непрерывных спектров сравнения, расположенных встык по высоте при разной ширине раскрытия щелей, что необходимо, например, для измерения показателей преломления и дисперсии оптических материалов. Один спектр является основным, исследуемым, и по крайней мере еще один спектр сравнения. Решаются аналогичные задачи путем точного измерения расстояний между спектральными линиями, полосами не только в основном исследуемом спектре, но и между линиями, одна из которых расположена в основном спектре, а другая - в спектре сравнения. При этом требуется высокая точность измерения. Например, дробная часть порядка интерференции должна быть измерена с точностью не хуже 5.10-4 периода [1, 6].
Покадровое фотографирование в несколько рядов, расположенных друг над другом, приводит к увеличению экспонирования всей спектральной области работы прибора, налагает дополнительные требования к стабильности излучения источников света и снижению точности измерений. Например, потеря на стыке участков спектра хотя бы одной интерференционной полосы снизит точность измерений показателя преломления [1].
Предлагаемое изобретение позволяет получить непрерывный спектр для всей спектральной области работы прибора 200-1000 нм и два непрерывных спектра сравнения, расположенных встык по высоте.
Этот технический результат достигается тем, что спектрограф содержит расположенные на круге Роуланда входную спектральную щель, вогнутую дифракционную решетку и кассету с диафрагмой, расположенную перед фокальной поверхностью, и отличается тем, что спектральная щель содержит расположенные в одной плоскости три пары симметрично раздвигаемых ножей с независимой регулировкой ширины их раскрытия, торцевые стыкуемые поверхности которых являются направляющими продольного параллельного перемещения ножей, основание кассеты выполнено с двумя концентричными пазами, наружный паз с установленной в нем пленкой совпадает с фокальной поверхностью, во внутреннем пазу установлена диафрагма с тремя прорезями, расположенными по высоте встык, но смещенными относительно друг друга по горизонтали более чем на один кадр.
На фиг. 1 изображена оптико-кинематическая схема спектрографа; на фиг. 2 - разрез основания кассеты с цилиндрическими концентричными пазами; на фиг. 3 - диафрагма; на фиг.4, 5, 6, 7 - трехрядная спектральная щель, где фиг.4 -вид спереди; фиг. 5 - разрез по вертикальной оси; фиг. 6 - вид сзади; фиг. 7 - разрез по горизонтальной оси щели; на фиг. 8 - устройство контроля светозаполнения прорезей диафрагмы светом; фиг. 9 - штамп для изготовления на диафрагме перфораций; на фиг. 10 - поперечный разрез штампа; на фиг. 11, 12, 13, 14, - расположение ножей и калибров в штампе при нарезании в ленте для диафрагмы пазов 15-1, 15-2, 15-3, 15,4 соответственно (фиг. 3).
Прибор построен по оптической схеме Пашена-Рунге [7]. На фиг. 1 представлена оптико-кинематическая схема спектрографа, где 1-1 и 1-2 - входные трехрядные щели, 2-1 и 2-2 - сменные дифракционные решетки, 3 - паз для сканирования в нем фотопленки, 4 -фотопленка, 5 - паз для сканирования в нем диафрагмы, 6 - диафрагма, 7 - трибки, 8-1 и 8-2 - кассеты для фотопленки, 9-1 и 9-2 - кассеты для диафрагмы, 10 - оптопара для покадровой остановки диафрагмы, 11-1 и 11-2 - бипротяжные механизмы для фотопленки и диафрагмы, 12 - устройство контроля светозаполнения прорезей диафрагмы, 13 -несущий фундамент.
На фиг. 2 представлен разрез основания кассеты с концентричными пазами, где 14 - основание, 3 - паз для фотопленки, 5 - паз для диафрагмы, 4 -фотопленка, 6 - диафрагма, 7-1, 7-2 - трибки для фотопленки и диафрагмы.
На фиг 3 изображена диафрагма в виде металлической ленты с пазами 15-1, 15-2, 15-3, 15-4 длиной по 3 м каждый и высотой 6,7 мм в соответствии с высотой ножей трехрядной щели, расположенных по высоте встык. Паз 15-1 предназначен для верхней пары ножей щели, паз 15-2 - для средней пары ножей, паз 15-3 - для нижней пары, паз 15-4 - вспомогательный для одновременного наблюдения трех спектров от трехрядной щели, 16 -отверстия для прохождения сигнала от светодиода к фотодиоду в оптопаре для остановки соответствующего паза 15-1, 15-2 или 15-3 при сканировании диафрагмы, 17 - отверстия для прохождения сигнала в оптопарах при остановке паза 15-4. Возвратно-поступательное перемещение диафрагмы, а также фотопленки вдоль дисперсии в спектральной области 200-1000 нм осуществляется с помощью бипротяжных механизмов (11-1, 11-2, фиг. 1). Для предотвращения провисания диафрагмы при длине пазов 3 м, особенно для верхнего паза и паза высотой 20 мм (4, фиг.3), а также облегчения сканирования диафрагмы и фотопленки в пазах предусмотрены трибки (7, фиг.1) и перфорация 18-1, 18-2. Прорези в диафрагме расположены по высоте встык, чтобы избежать переналожения астигматических спектров от трехрядной щели, таким образом, чтобы прямая, проходящая через нижний край верхней прорези диафрагмы, являлась как бы продолжением верхнего края средней прорези диафрагмы и аналогично были расположены средняя и нижняя прорези.
Такое расположение прорезей позволит на фотопленке получать три астигматических спектра, расположенных друг над другом с резкими границами их соприкосновения. Возможность возвратно-поступательного перемещения с помощью бипротяжных механизмов позволяет перемещать диафрагму в требуемом при исследовании направлении.
На фиг. 4, 5, 6, 7 изображена трехрядная спектральная щель: фиг. 4 - вид спереди, фиг. 5 - разрез вдоль оптической оси прибора (поперечный разрез щели), фиг. 6 - вид сзади, фиг. 7 -разрез щели вдоль дисперсии (перпендикулярно оптической оси прибора), где 19 - корпус, 20-1 - отсчетный барабан раскрытия верхней пары ножей, 20-2 - отсчетный барабан нижней пары ножей, 20-3 - отсчетный барабан средней пары ножей, 21-1 - микрометренный винт верхней пары ножей, 21-2 - микрометренный винт нижней пары ножей, 21-3 - микрометренный винт средней пары ножей, 22-1, 22-2, 22-3 - опорные планки верхней, нижней, средней пары ножей, 23-1, 23-2, 23-3 - ползуны, 24-1, 24-2, 24-3 - три пары ножей, 25-1, 25-2 - базовая и ограничительная планки соответственно, 26-1, 26-2, 26-3 - клинья, 27-1, 27-2, 27-3 - пары колков, 28 - пара пружин (для каждой пары ножей), 29-1, 29-2, 29-3 - пары спиральных пружин, 30-1, 30-2, 30-3 - спиральные пружины, 31-1, 31-2, 31-3 - пары направляющих, 32-1, 32-2, 32-3 - винты, 33 - основание, 34-1, 34-2, 34-2 -шестерни для управления шириной щели извне, например извне термостатированного помещения корпуса прибора, от пульта. Цифры 1, 2, 3 относятся к верхней паре ножей, 2 - к нижней паре, 3 - к средней паре ножей.
На фиг. 8 представлено устройство контроля светозаполнения прорезей диафрагмы светом, отраженным от дифракционной решетки, где 35, 36, 37 - фотодиоды, принимающие излучение: 35 - от верхней пары ножей трехрядной щели, 36 - от средней пары ножей, 37 - от нижней пары ножей, 38 - клеммы для присоединения к кабелям, идущим на световое табло пульта, индикация на котором позволяет контролировать соосность установки источника излучения для каждой пары ножей щели, соответствующей прорезям диафрагмы, 39 - посадочная ось (на корпусе кассеты).
Для того, чтобы изготовить диафрагму с пазами так, чтобы регистрируемые спектры стыковались по высоте, т.е. чтобы прямая, проходящая через нижний край верхней прорези диафрагмы, являлась как бы продолжением верхнего края средней прорези диафрагмы и аналогично были расположены средняя и нижняя прорези, нами была разработана специальная технологическая оснастка, представленная на фиг. 9, 10, 11, 12, 13, 14. На фиг. 9 изображен штамп для изготовления диафрагмы, где 40 - два пуансона для изготовления на диафрагме двух рядов перфораций (фиг. 3, поз. 18-1, 18-2), 41 - штифты, 42 - вход ленты для изготовления диафрагмы, 43 - выход изготовленной диафрагмы.
На фиг. 10. изображен поперечный разрез штампа по А-А (фиг.9), где 44, 45 -верхнее и нижнее основания корпуса штампа, 46 - паз для продвижения ленты, 47 - лента, 48, 49 - центрирующие оси, 50-1, 50-2, 51-1, 51-2 - ножи, 52, 53 - калибры. На фиг. 11 показано расположение ножей и калибров в штампе для нарезания верхнего паза 15-1 в диафрагме (фиг. 3).
На фиг. 12 показано расположение ножей и калибров в штампе для нарезания среднего паза 15-2 в диафрагме (фиг. 3).
На фиг. 13 показано расположение ножей и калибров в штампе для нарезания нижнего паза 15-3 в диафрагме (фиг. 3).
На фиг. 14 показано расположение ножей и калибров в штампе для нарезания вспомогательного паза 15-4 (фиг. 3).
Работа на спектрографе осуществляется следующим образом (фиг.1).
При фотографировании спектра железа или других источников излучения прибор работает как обычный спектрограф. Излучение от источника света, пройдя одну из входных щелей (1-1 или 1-2, фиг.1), направляется к дифракционной решетке (2-1 или 2-2), которая введена в ход лучей, т.е. установлена на круге Роуланда. Дифрагированные решеткой лучи, пройдя через соответствующий паз диафрагмы, регистрируются на фотопленке 4. Контроль правильности заполнения светом каждой прорези диафрагмы от соответствующих ножей трехрядной щели осуществляется по световому табло с помощью трех фотодиодов (фиг. 8, поз. 35, 36, 37), установленных непосредственно против каждого паза диафрагмы (фиг. 3, поз. 15-1, 15-2, 15-3). При этом излучение, прошедшее через верхнюю, среднюю, нижнюю щель, проходит соответствующий ей верхний, средний или нижний паз в диафрагме и регистрируется на фотопленке (фиг. 1. поз. 4).
Таким образом, на одном кадре протяженностью, например, 3 м, т.е. на всю рабочую область спектра 200-1000 нм, будут зарегистрированы непрерывными встык по высоте три спектра. При этом введенная в паз 3 (фиг.1) фотопленка 4 (фиг. 1) при регистрации трех спектров установлена неподвижно, в то время как диафрагма 6 (фиг. 1) при регистрации дифрагированного излучения перемещается в пазу 5 с помощью бипротяжных механизмов 11-1, 11-2. Если излучение от источника света проходит через верхние ножи трехрядной спектральной щели, то дифрагированное от решетки излучение будет регистрироваться на фотопленке, пройдя через верхний паз в диафрагме. При регистрации излучения, которое проходит через средние ножи щели, дифрагированное излучение будет регистрироваться через средний паз диафрагмы. Аналогично и для нижних ножей щели. Когда открыты одновременно три пары ножей щели, дифрагированное излучение от каждой пары ножей будет регистрироваться на фотопленке, пройдя паз 15-4 (фиг. 3). При этом диафрагма с помощью бипротяжных механизмов 11-1, 11-2 продвинется по пазу диафрагмы 5 на длину одного кадра. Установка прорези, остановка сканирования пленки или диафрагмы производятся с помощью оптопар (фиг.1, поз. 10) через отверстия в диафрагме (фиг.3, поз. 16, 17). Отверстия (фиг. 3, поз. 17) в диафрагме предназначены для остановки ее сканирования при регистрации или наблюдении одновременно трех спектрограмм от трехрядной щели. Последовательность регистрации спектров может быть любой. Для этого диафрагма с помощью бипротяжных механизмов имеет возможность передвигаться вдоль спектра в возвратно-поступательном направлении. При необходимости и фотопленка с помощью своих бипротяжных механизмов также имеет возможность возвратно-поступательного перемещения. После окончания регистрации спектров пленка вводится в любую кассету, кассета снимается с прибора для последующей обработки фотопленки.
В приборах ДФС-26 [5], ДФС-8 [4], ДФС-13 [3] используются стандартные входные щели переменной ширины УФ-2 с пределами раскрытия 0-0,4 мм и ценой деления отсчетного барабана 0,001 мм. Рабочая высота щели 15 мм [8]. Щель имеет одну пару ножей, которые при их раскрытии перемещаются по направляющим с помощью клиньев, укрепленных на ползуне, а ползун перемещается от винтового механизма с отсчетной шкалой.
Применение щели с одной парой ножей не позволяет расширить функциональные возможности прибора, т.е. отсутствует возможность получения нескольких непрерывных спектров встык при разной ширине щели.
Для стигматических приборов в этом случае могут быть применены так называемые Гертмановские диафрагмы, но они не пригодны для спектрографов с вогнутыми дифракционными решетками из-за астигматизма спектральных линий.
Трехрядная симметричная щель (фиг. 4, 5, 6, 7) переменной ширины с предельными раскрытия 0-2 мм имеет цену деления отсчетного барабана 0,002 мм (1 оборот - 0,1 мм, на отсчетном барабане имеется 50 делений). Все три пары ножей, т.е. симметрично-раскрываемые и самостоятельно регулируемые, установлены в едином корпусе 19 на основании 33. Базовой поверхностью для нижней пары ножей 24-2 является базовая планка 25-1, т.е. непосредственно на планке 25-1 торцевой поверхностью установлены два ножа 24-2. В контакте с верхней торцевой поверхностью ножей 24-2 находится нижняя торцевая поверхность ножей 24-3, а верхняя торцевая поверхность 24-3 находится в контакте с нижней торцевой поверхностью ножей 24-1. Планка 25-2 является ограничительной для комплекта ножей. Таким образом, стыкуемые поверхности комплекта трех пар ножей являются направляющими их продольного параллельного перемещения. Так как каждая пара ножей имеет самостоятельные и независимые друг от друга механизмы раскрытия-закрытия щелей, то они могут функционировать как все одновременно, так и по одиночке в любом сочетании и при разной ширине их раскрытия.
Раскрытие любой щели происходит следующим образом. Вращаем отсчетным барабанчиком - любым из трех ножей щели : 20-1, 20-2 или 20-3 по часовой стрелке до требуемой ширины щели. При этом связанный с барабанчиком микрометренный винт 21-2 или 21-2, 21-3 перемещается вниз, упирается в планку, а т. к. планка 22-1 (22-2, 22-3) жестко соединена с ползуном 23-1 (23-2, 23-3), то перемещаются вниз ползун и жестко соединенные с ним через винты клинья 26-1 (26-2, 26-3). Клинья 26-1 (26-2, 26-3) находятся в плотном контакте с колками 27-1 (27-2, 27-3), на которые симметрично по оси опираются пружины 28 с регулируемым усилием. Колки 27-1 (27-2, 27-3) жестко соединены с ножами 24-1 (24-2, 24-3). При перемещении клиньев 26-1 (26-2, 26-3) вниз колки и сопряженные с ними ножи раздвигаются, т.е. увеличивается ширина раскрытия щели. Закрытие щели осуществляется в обратном порядке с помощью спиральных пружин 30-1 (30-2, 30-3), действующих соосно перемещению ползуна.
Управление щелями может осуществляться вручную или от ЭВМ через шестерни 34-1 (34-2, 34-3), связанные с пультами управления, а от пультов к ЭВМ. Управление щелями вручную, но дистанционно (вне термостатированного помещения корпуса прибора) с помощью пультов осуществляется следующим образом. Пульт включается в сеть переменного тока 220 B, 50 Гц. На блоки устройства питание и сигналы подаются через пульты. Раскрытие и закрытие щелей осуществляется нажатием соответствующих кнопок: для верхней пары ножей щели, для средней пары ножей и для нижней пары ножей. Ширина раскрытия ножей трехрядной щели устанавливается на пульте вручную, с ЭВМ ширина щелей устанавливается автоматически.
Таким образом, разработан спектрограф, позволяющий осуществлять непрерывную регистрацию всей спектральной области работы прибора при обеспечении регистрации спектров сравнения встык с исследуемым спектром и при различной ширине щелей для каждого спектра, что обеспечивается введением трехрядной щели и разработкой соответствующей конструкции узла кассеты.
Приведем некоторые дополнительные данные по разработанному спектрографу.
Спектрограф расположен на специальном фундаменте, максимально исключающем вибрации (0,0315 мм/с).
Дифракционная решетка, щели и кассета расположены на круге Роуланда неподвижно. Узлов трехрядных щелей два, они установлены под углами падения излучения на дифракционную решетку 20o и 50o, что позволяет работать с двумя независимыми источниками света. Кроме того, установка двух щелей под углами падения излучения 20o и 50o в сочетании со сменными дифракционными решетками позволяет охватить требуемую спектральную область с необходимой обработкой линейной дисперсией, не выходя из углов преимущественного коэффициента отражения решеток. Например, при угле падения 20o с решеткой 600 штр/мм на одном кадре длиной 2500 мм можно зарегистрировать спектральную область 200-1000 нм при обратной линейной дисперсии 0,32 нм/мм, а при угле падения 50o с решеткой 1200 штр/мм на одном кадре длиной 2800 мм можно зарегистрировать примерно такую же спектральную область 330-780 нм, но при обратной линейной дисперсии 0,16 нм/мм.
Узел дифракционных решеток имеет две оправы, в которые устанавливаются, без нарушения фокусировки прибора, любые две сменные дифракционные решетки: 600, 1200, 1800, 2400 штр/мм в любом сочетании. Радиус кривизны решеток 5,2 м. Обратная линейная дисперсия 0,32, 0,16, 0,11, 0,08 нм/мм соответственно для решеток 600, 1200, 1800, 2400 штр/мм. Заштрихованная площадь решеток 140х70 мм. Разрешающая сила решеток в первом порядке спектра 84·103, 168·103, 252·103, 336·103 соответственною. Предел разрешения прибора представлен в таблице.
Поскольку высокий коэффициент отражения решеток можно получить только для небольших областей углов падения, в этом спектрографе весьма эффективно одновременное использование нескольких решеток таким образом, что соседние области спектра перекрываются различными решетками, чем достигнуты в данном приборе высокая интенсивность и высокий предел разрешения.
Неподвижность пленки при регистрации стыкуемых спектров сравнения гарантирует точное совмещение их по горизонтали (вдоль дисперсии) и по вертикали. Если пластинка перемещается вверх и вниз (ДФС-26, ДФС-8, ДФС-13), точное совмещение спектров по вертикали и по горизонтали будет неизбежно сбито. Это недопустимо при спектрорефрактометрических измерениях показателей преломления и дисперсии оптических материалов, например, при измерениях дробной части порядка интерференции или при счете интерференционных полос, при котором недопустима потеря хотя бы одной полосы.
Покадровое фотографирование спектров для области 200-1000 нм приводит к увеличению времени горения источников излучения, а так как источники излучения не всегда стабильны во времени, интенсивность спектральных линий будет на разных спектральных участках различная и по времени невоспроизводимая (ДФС-26, ДФС-8, ДФС-13).
Регистрация спектров производится на стандартную фотопленку шириной 35 мм. Длина фотопленки, заряжаемой в кассету, 16 м. Длина фотопленки, используемой для одного кадра, зависит от используемой дифракционной решетки и угла падения на нее излучения. Максимальная длина одного кадра 3 м.
Помещение, являющееся корпусом прибора, термостатировано (20±0,1oC), что требуется в соответствии с ГОСТом при измерении оптических характеристик стекол и принято мировыми стандартами ведущих фирм - производителей оптического стекла (фирмы ШОТТ, Цейс, Корнинг, Димасил и др.).
Литература.
1. Тимофеева Н. Ф. Диссертация, 1957 г. Дисперсия оптических стекол (методы и результаты измерений). ГОИ им. С.И. Вавилова, с. 27-61.
2. Дж. Гаррисон, Р. Лорд и Дж. Луфбурев. Практическая спектроскопия. М., 1950 г., с. 212.
3. Каталог. Оптические приборы, т.4, Спектральные приборы, с. 90-94, изд. Машиностроение, 1969 г.
4. Каталог. Оптические приборы, т.4, Спектральные приборы, с. 86-89. изд. Машиностроение, 1969 г.
5. Каталог. Оптические приборы, т.4, Спектральные приборы, с. 30-35, изд. Машиностроение, 1969 г.
6. Обзор N 4880, М., 1989 г., ЦНИИИ и ТЭИ. Некоторые вопросы техники интерференционных измерений. Герасимова Н.Г., Дедюлин Ю.В.
7. Р. Сойар. Экспериментальная спектроскопия, М., 1953 г., с. 152.
8. ГОСТ 17173-84 "Щели спектральных приборов и насадки к ним", Государственный стандарт Союза СССР, Государственный комитет СССР по стандартам, М.
Формула изобретения: Спектрограф, содержащий расположенные на круге Роуланда вогнутую дифракционную решетку, входную спектральную щель с регулируемой шириной раскрытия ножей и кассету с диафрагмой, отличающийся тем, что спектральная щель содержит расположенные в одной плоскости три пары симметрично раздвигаемых ножей с независимой регулировкой ширины раскрытия, торцевые стыкуемые поверхности которых являются направляющими продольного перемещения ножей, кассета снабжена двумя бипротяжными механизмами для перемещения пленки и диафрагмы, основание кассеты выполнено с двумя концентричными пазами, причем наружный паз совпадает с фокальной плоскостью, а во внутреннем пазу установлена диафрагма с тремя прорезями, расположенными по высоте встык соответственно ножам трехрядной входной щели, смещенными по горизонтали одна относительно другой более чем на длину одной прорези.