Forbidden

You don't have permission to access /zzz_siteguard.php on this server.

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЕРЕКРЕЩИВАЮЩИХСЯ ОСЕЙ ОТВЕРСТИЙ - Патент РФ 2139494
Главная страница  |  Описание сайта  |  Контакты
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЕРЕКРЕЩИВАЮЩИХСЯ ОСЕЙ ОТВЕРСТИЙ
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЕРЕКРЕЩИВАЮЩИХСЯ ОСЕЙ ОТВЕРСТИЙ

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЕРЕКРЕЩИВАЮЩИХСЯ ОСЕЙ ОТВЕРСТИЙ

Патент Российской Федерации
Суть изобретения: Объект измерения размещают на установочной плоскости. Основной центрирующий узел устанавливают в одну пару отверстий объекта измерения, а дополнительный центрирующий узел - в другую пару отверстий. Измерительный прибор базируют основными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на основной каретке со стойкой по основному центрирующему узлу, а дополнительными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на дополнительной каретке, - по дополнительному центрирующему узлу. Основные базирующие призмы с основной кареткой, содержащей основную измерительную плоскость, вращают вокруг оси основного центрирующего узла и перемещают вдоль его оси. Дополнительные базирующие призмы с дополнительной кареткой, содержащей дополнительную измерительную плоскость, вращают вокруг оси стойки и перемещают вдоль этой оси. Достигают кратчайшего расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями. Измеряют отклонения расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями, а также отклонение угла скрещивания между вспомогательными плоскостями, выполненными на основной и дополнительных каретках в их общих биссекторных плоскостях. Обеспечивается расширение технологических возможностей за счет измерения как расстояния, так и угла скрещивания между перекрещивающимися осями отверстий. 2 ил.
Поиск по сайту

1. С помощью поисковых систем

   С помощью Google:    

2. Экспресс-поиск по номеру патента


введите номер патента (7 цифр)

3. По номеру патента и году публикации

2000000 ... 2099999   (1994-1997 гг.)

2100000 ... 2199999   (1997-2003 гг.)
Номер патента: 2139494
Класс(ы) патента: G01B5/14
Номер заявки: 98103691/28
Дата подачи заявки: 02.03.1998
Дата публикации: 10.10.1999
Заявитель(и): Тверской государственный технический университет
Автор(ы): Архаров А.П.
Патентообладатель(и): Тверской государственный технический университет
Описание изобретения: Область техники
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, преимущественно для измерения расстояний между осями отверстий и их межосевых углов в корпусных деталях.
Уровень техники
Известен способ измерения пересечения осей отверстий, заключающийся в поочередной установке оправки в отверстия проверяемой детали и измерении расстояния между осями по разности показаний измерительной головки в двух положениях оправки с учетом ее диаметра [Точность и производственный контроль в машиностроении. Справочник. /И.И.Болонкина, А.К.Кутай, Б.М.Сорочкин, Б.А. Тайц /Под общ.ред. А.К.Кутая. - Л.: Машиностроение, 1983, с. 298-299, рис. 10.14,з (аналог)].
Однако известный способ позволяет измерять только один параметр расположения пересекающихся осей отверстий - расстояние между осями.
Наиболее близким к заявленному относится способ измерения отклонений расстояния между перекрещивающимися осями отверстий, заключающийся в размещении объекта измерения на установочной плоскости, установке основного центрирующего узла в одну пару отверстий объекта измерения, а дополнительного центрирующего узла - в другую пару отверстий, размещении измерительного прибора на установочной плоскости и его базировании основными базирующими элементами по основному центрирующему узлу, а дополнительными базирующими элементами - по дополнительному центрирующему узлу, вращении основных базирующих элементов, содержащих основную измерительную плоскость, вокруг оси основного центрирующего узла, достигая параллельности основной измерительной плоскости и оси дополнительного центрирующего узла, вращении дополнительных базирующих элементов, содержащих дополнительную измерительную плоскость, вокруг оси дополнительного центрирующего узла, достигая параллельности дополнительной измерительной плоскости и оси основного центрирующего узла, а затем измерении расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями [Патент RU N 2060451, МПК: G 01 D 5/00, 5/16, 1996 (прототип)].
Однако указанный способ ограничен в своих возможностях, поскольку позволяет измерять только отклонение межосевого расстояния отверстий.
Раскрытие изобретения
В основу настоящего изобретения была положена задача разработки такого способа, при котором обеспечивается расширение его технологических возможностей за счет измерения отклонений не только расстояния, но и угла скрещивания между перекрещивающимися осями отверстий.
Это достигается тем, что объект измерения размещают на установочной плоскости, устанавливают основной центрирующий узел в одну пару отверстий объекта измерения, а дополнительный центрирующий узел - в другую пару отверстий, базируют измерительный прибор основными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на основной каретке со стойкой, по основному центрирующему узлу, а дополнительными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на дополнительной каретке, - по дополнительному центрирующему узлу, основные базирующие призмы с основной кареткой, содержащий основную измерительную плоскость и выполненную в общей биссекторной плоскости указанных призм вспомогательную плоскость, вращают вокруг оси основного центрирующего узла и перемещают вдоль этой оси, дополнительные базирующие призмы с дополнительной кареткой, содержащей дополнительную измерительную плоскость и выполненную в общей биссекторной плоскости этих призм вспомогательную плоскость, вращают вокруг оси стойки и перемещают вдоль указанной оси, достигая в сочетании с упомянутыми движениями основных базирующих призм кратчайшего расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями, измеряют отклонения от настроенного как расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями, так и угла скрещивания между вспомогательными плоскостями.
Таким образом способ позволяет измерять два параметра расположения перекрещивающихся осей отверстий: отклонение межосевого расстояния и отклонение угла скрещивания.
Краткое описание чертежей
На фиг. 1 представлена схема измерения предложенным способом, вид спереди; на фиг. 2 - то же, вид сверху.
Лучший вариант осуществления изобретения
Предлагаемый способ заключается в следующем.
На установочной плоскости 1 размещают объект измерения 2. В одну пару отверстий объекта измерения 2 устанавливают основной центрирующий узел 3, а в другую пару отверстий - дополнительный центрирующий узел 4. Измерительный прибор базируют основными базирующими призмами 5 и 6, закрепленными в общей биссекторной плоскости а-а на основной каретке 7 со стойкой 8, по основному центрирующему узлу 3, а дополнительными базирующими призмами 9 и 10, закрепленными в общей биссекторной плоскости б-б на дополнительной каретке 11, - по дополнительному центрирующему узлу 4. Основные базирующие призмы 5 и 6 с основной кареткой 7, содержащей основную измерительную плоскость 12 и выполненную в общей биссекторной плоскости а-а указанных призм вспомогательную плоскость 13, вращают вокруг оси X-X основного центрирующего узла 3 и перемещают вдоль этой оси, а дополнительные базирующие призмы 9 и 10 с дополнительной кареткой 11, содержащей дополнительную измерительную плоскость 14 и выполненную в общей биссекторной плоскости б-б упомянутых призм вспомогательную плоскость 15, вращают вокруг оси Z стойки 8 и перемещают вдоль этой оси, достигая при всех этих движениях кратчайшего расстояния S между основной 12 и дополнительной 14 измерительными плоскостями. Достигнутое кратчайшее расстояние S означает параллельность основной измерительной плоскости 12 и оси дополнительного центрирующего узла 4, а также параллельность дополнительной измерительной плоскости 14 и оси основного центрирующего узла 3. Затем измерителем 16 измеряют отклонение от настроенного расстояния между основной 12 и дополнительной 14 измерительными плоскостями, а измерителем 17 - отклонение от настроенного угла скрещивания γ между вспомогательными плоскостями 13 и 15. Измеренные величины являются отклонениями соответственно расстояния и угла скрещивания между осями отверстий объекта измерения 2.
Промышленная применимость
Способ может быть использован на машиностроительных предприятиях при измерении расположения отверстий в корпусных деталях, что обеспечивает расширение его технологических возможностей.
Формула изобретения: Способ измерения отклонений расположения перекрещивающихся осей отверстий, заключающийся в размещении объекта измерения на установочной плоскости, установке основного центрирующего узла в одну пару отверстий объекта измерения, а дополнительного центрирующего узла - в другую пару отверстий, базировании измерительного прибора основными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на основной каретке со стойкой, по основному центрирующему узлу, а дополнительными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на дополнительной каретке, - по дополнительному центрирующему узлу, вращении основных базирующих призм с основной кареткой, содержащей основную измерительную плоскость, вокруг оси основного центрирующего узла, вращении дополнительных базирующих призм с дополнительной кареткой, содержащей дополнительную измерительную плоскость, измерении отклонения расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями, отличающийся тем, что основные базирующие призмы с основной кареткой перемещают вдоль оси основного центрирующего узла, дополнительные базирующие призмы с дополнительной кареткой вращают вокруг оси стойки и перемещают вдоль этой оси, достигая в сочетании с упомянутыми движениями основных базирующих призм кратчайшего расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями, а измеряют также отклонение угла скрещивания между вспомогательными плоскостями, выполненными на основной и дополнительных каретках соответственно в общей биссекторной плоскости основных базирующих призм и в общей биссекторной плоскости дополнительных базирующих призм.