Главная страница  |  Описание сайта  |  Контакты
Патент на изобретение №2475866

(19)

RU

(11)

2475866

(13)

C2

(51) МПК G09F9/30 (2006.01)

G09G3/36 (2006.01)

G02F1/1362 (2006.01)

(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ПАТЕНТУ Статус: по данным на 18.02.2013 - нет данных Пошлина:

(21), (22) Заявка: 2011106755/08, 11.05.2009

(24) Дата начала отсчета срока действия патента:

11.05.2009

Приоритет(ы):

(30) Конвенционный приоритет:

23.07.2008 JP 2008-190148

(43) Дата публикации заявки: 27.08.2012

(45) Опубликовано: 20.02.2013

(56) Список документов, цитированных в отчете о

поиске: US 2004/0095549 A1, 20.05.2004. EP 1667090 A1, 07.06.2006. US 2005/0056833 A1, 17.05.2005. RU 2160933 C2, 20.12.2000.

(85) Дата начала рассмотрения заявки PCT на национальной фазе: 24.02.2011

(86) Заявка PCT:

JP 2009/058777 20090511

(87) Публикация заявки PCT:

WO 2010/010750 20100128

Адрес для переписки:

129090, Москва, ул. Б. Спасская, 25, стр.3, ООО "Юридическая фирма Городисский и Партнеры"

(72) Автор(ы):

ЙОСИДА Масахиро (JP),

КАВАМУРА Такехико (JP),

ОКАДА Кацухиро (JP)

(73) Патентообладатель(и):

ШАРП КАБУСИКИ КАЙСЯ (JP)

(54) ПОДЛОЖКА АКТИВНОЙ МАТРИЦЫ, ДИСПЛЕЙНОЕ УСТРОЙСТВО, СПОСОБ ПРОВЕРКИ ПОДЛОЖКИ АКТИВНОЙ МАТРИЦЫ И СПОСОБ ПРОВЕРКИ ДИСПЛЕЙНОГО УСТРОЙСТВА

(57) Реферат:

Изобретение относится к средствам проверки подложки активной матрицы. Технический результат заключается в повышении достоверности обнаружения коротких замыканий смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном и том же слое. Подложка состоит из первых соединительных проводов, подключенных к контактному выводу затвора, который подключается к проводам вывода, вторых соединительных проводов, подключенных к контактному выводу затвора, который подключается к проводам вывода, объединенных проводов, которые объединяют два взаимно смежных провода из первого соединительного провода и второго соединительного провода в один провод, первого проверочного провода, который может вводить сигнал проверки в объединенные провода, которые не являются смежными в объединенных проводах, и второго проверочного провода, который может вводить сигнал проверки в объединенные провода, которые не подключены к первому проводу проверки и не являются смежными в объединенных проводах. 8 н. и 12 з.п. ф-лы, 6 ил.

Область техники, к которой относится изобретение

Настоящее изобретение относится к подложке активной матрицы, имеющей два или более слоев, с множеством первых выбирающих межсоединений, соответственно, соединяющих множество первых межсоединений, сформированных параллельно друг другу в области отображения, и множество первых контактных выводов, размещаемых в области размещения контактных выводов, сформированном в соответствующих слоях, к дисплейному устройству, к способу проверки подложки активной матрицы и к способу проверки дисплейного устройства.

Предшествующий уровень техники

В последние годы жидкокристаллические панели широко используются во множестве электронных устройств, таких как мобильные телефоны, PDA, автомобильные навигационные системы и персональные компьютеры. Жидкокристаллические панели характеризуются своей тонкостью, легкостью и энергосбережением. Что касается способов монтажа драйверов на таких жидкокристаллических панелях, известен так называемый способ COG (для монтажа на стеклянную подложку), который заключает в себе непосредственный монтаж драйвера на одной (подложке активной матрицы) из пары подложек, противоположных друг другу, через жидкокристаллический материал (например, см. JP 9-329796A, JP 8-328033A). Использование этого COG-способа дает возможность делать жидкокристаллические панели тоньше, меньше и легче, а также с более высокой четкостью между межсоединениями и контактными выводами.

Кроме того, количество вертикальных и горизонтальных пикселов экранов дисплея жидкокристаллических панелей, используемых в компактных электронных устройствах, таких как мобильные телефоны и PDA, в последние годы изменилось с 160×120 QQVGA и 176×144 QCIF на 320×240 QVGA и даже 640×480 VGA. Это приводит к увеличению количества межсоединений и контактных выводов, которые должны формироваться на подложке активной матрицы, составляющей жидкокристаллическую панель. Тем не менее, чтобы разрешать потребность в более компактных жидкокристаллических панелях более высокой четкости, размер подложки активной матрицы не может увеличиваться.

С учетом этого известна подложка активной матрицы, на которой множество выбирающих межсоединений, соответственно, соединяющих множество межсоединений затвора, сформированных в области отображения, и множество контактных выводов затвора, размещаемых в области размещения контактных выводов, формируются в двух или более слоях (нескольких слоях) (например, см. JP 2004-53702A, JP 2005-91962A). В частности, заданное количество множества выбирающих межсоединений формируется в слое (первом слое), идентичном слою, в котором формируются межсоединения затвора, и оставшиеся выбирающие межсоединения формируются на слое (втором слое), отличном от слоя, в котором формируются межсоединения затвора. Следует отметить, что изоляционный материал вставляется между выбирающими межсоединениями, сформированными в первом слое, и выбирающими межсоединениями, сформированными во втором слое. Разбиение на множество слоев выбирающих межсоединений обеспечивает возможность реализации более компактной жидкокристаллической панели более высокого разрешения без увеличения размера подложки активной матрицы, поскольку разнесение между выбирающими межсоединениями, сформированными в первом слое, и выбирающими межсоединениями, сформированными во втором слое, может уменьшаться.

В этой связи, поскольку изоляционный материал вставляется между выбирающими межсоединениями, сформированными в первом слое, и выбирающими межсоединениями, сформированными во втором слое, короткие замыкания (утечка) практически никогда не возникают между выбирающими межсоединениями, сформированными в первом слое, и выбирающими межсоединениями, сформированными во втором слое. Тем не менее, короткие замыкания могут возникать между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном и том же слое, вследствие пыли от фотолитографии, остатка от травления и т.п. в ходе изготовления подложки активной матрицы. В частности, в последние годы требуются более компактные жидкокристаллические панели с более высоким разрешением, как пояснено выше, что увеличивает вероятность коротких замыканий между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном и том же слое, поскольку разнесение между межсоединениями все в большей степени сокращается в последние годы. Важность проверки на предмет коротких замыканий между выбирающими межсоединениями в процессе проверки в ходе изготовления и т.п. подложек активной матрицы тем самым повышается. Таким образом, в процессе монтажа, монтаж драйвера на дефектной подложке активной матрицы, в которой возникает короткое замыкание в межсоединениях, приводит к дополнительным материальным затратам и эксплуатационным затратам.

Тем не менее, несмотря на увеличение важности проверки на предмет коротких замыканий между выбирающими межсоединениями, механизм для обнаружения коротких замыканий между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном и том же слое относительно каждого из множества слоев в подложке активной матрицы, имеющей два или более слоев, не установлен. В частности, в традиционной подложке активной матрицы, имеющей два или более слоев, идентичный сигнал проверки вводится из идентичного проверочного межсоединения в каждое из смежных выбирающих межсоединений, сформированных в одном и том же слое, так что, хотя разъединение выбирающих межсоединений может обнаруживаться, короткие замыкания между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном том же слое, не могут обнаруживаться.

Сущность изобретения

Настоящее изобретение осуществлено с учетом вышеуказанных проблем.

Задачей настоящего изобретения является создание подложки активной матрицы, дисплейного устройства, способа проверки подложки активной матрицы и способа проверки дисплейного устройства, которые обеспечивают возможность достоверного обнаружения коротких замыканий между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном и том же слое, в случае если выбирающие межсоединения формируются в каждом из множества слоев.

Средство решения проблемы

Для решения вышеуказанной задачи подложка активной матрицы в настоящем изобретении включает в себя множество первых межсоединений, сформированных параллельно друг другу в области отображения, множество вторых межсоединений, сформированных параллельно друг другу и так, чтобы пересекать множество первых межсоединений в области отображения, множество первых контактных выводов, размещаемых в области размещения контактных выводов, множество вторых контактных выводов, размещаемых в области размещения контактных выводов, множество первых выбирающих межсоединений, соответственно, соединяющих множество первых межсоединений и множество первых контактных выводов, и множество вторых выбирающих межсоединений, соответственно, соединяющих множество вторых межсоединений и множество вторых контактных выводов. Множество первых выбирающих межсоединений включает в себя множество третьих выбирающих межсоединений и множество четвертых выбирающих межсоединений, причем третьи выбирающие межсоединения формируются в слое, идентичном слою, в котором первые межсоединения формируются, по меньшей мере, часть четвертых межсоединений формируется в слое, отличном от слоя, в котором первые межсоединения формируются с размещенным между ними изоляционным материалом, и третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения формируются попеременно в расчете на каждое межсоединение в области периферийных межсоединений, которая является отличной от области отображения и области размещения контактных выводов, и подложка активной матрицы включает в себя множество первых соединительных межсоединений, соответственно, подключенных к множеству первых контактных выводов, к которым множество третьих выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются множество вторых соединительных межсоединений, соответственно, подключенных к множеству первых контактных выводов, к которым множество четвертых выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются множество объединенных межсоединений - каждые состоят из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения, объединенных друг с другом, причем первое общее межсоединение в общем соединяет объединенные межсоединения, которые не смежены друг с другом из множества объединенных межсоединений, а второе общее межсоединение в общем соединяет объединенные межсоединения, которые смежены друг с другом и не подключены к первому общему межсоединению из множества объединенных межсоединений.

В подложке активной матрицы согласно настоящему изобретению сигналы проверки могут вводиться в третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения через объединенные межсоединения, первые соединительные межсоединения и вторые соединительные межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки - в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение в процессе проверки в ходе изготовления и т.п. подложки активной матрицы. Таким образом, взаимно независимые сигналы проверки могут вводиться в смежные третьи выбирающие межсоединения. Следует отметить, что третьи выбирающие межсоединения формируются в слое, идентичном слою, в котором формируются первые межсоединения. Тем самым могут обнаруживаться короткие замыкания между смежными третьими выбирающими межсоединениями. Взаимно независимые сигналы проверки также могут вводиться в смежные четвертые выбирающие межсоединения. Следует отметить, что, по меньшей мере, часть четвертых выбирающих межсоединений формируется в слое, отличном от слоя, в котором первые межсоединения формируются с размещенным между ними изоляционным материалом. Тем самым могут обнаруживаться короткие замыкания между смежными четвертыми выбирающими межсоединениями.

Подложка активной матрицы согласно настоящему изобретению снабжена множеством объединенных межсоединений, каждое из которых состоит из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения, объединенных друг с другом, причем каждые из множества объединенных межсоединений подключаются к первому общему межсоединению или второму общему межсоединению. Расстояние между межсоединениями тем самым может увеличиваться, и количество соединительных частей в слое межсоединений для электрического подключения межсоединений, сформированных в различных слоях, может сокращаться по сравнению с режимом, в котором каждые из множества первых соединительных межсоединений и множества вторых соединительных межсоединений непосредственно подключаются к первому общему межсоединению или второму общему межсоединению без обеспечения объединенных межсоединений. Таким образом, короткие замыкания между межсоединениями практически никогда не возникают, поскольку разнесение между межсоединениями (между объединенными межсоединениями) может увеличиваться. Кроме того, повреждения соединения и т.п. в соединительных частях в слое межсоединений могут уменьшаться вследствие возможности сокращать количество соединительных частей в слое межсоединений.

Как результат, в случае, если выбирающие межсоединения формируются в каждом из множества слоев, короткие замыкания между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном слое, могут достоверно обнаруживаться посредством простой конфигурации.

Для решения вышеуказанной задачи дисплейное устройство в настоящем изобретении содержит подложку активной матрицы согласно настоящему изобретению. Следует отметить, что дисплейное устройство предпочтительно является жидкокристаллическим дисплейным устройством.

Для решения вышеуказанной задачи способ проверки подложки активной матрицы или дисплейного устройства в настоящем изобретении является способом проверки вышеуказанной подложки активной матрицы или дисплейного устройства, снабженного вышеуказанной подложкой активной матрицы, включающим в себя процесс проверки третьих выбирающих межсоединений и четвертых выбирающих межсоединений посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение и процесс обрезания множества первых соединительных межсоединений и множества вторых соединительных межсоединений после этапа проверки.

В способе проверки подложки активной матрицы или дисплейного устройства согласно настоящему изобретению, короткие замыкания между смежными третьими выбирающими межсоединениями и короткие замыкания между смежными четвертыми выбирающими межсоединениями могут обнаруживаться посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение. Множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений затем обрезаются в процессе обрезания. Множество первых контактных выводов, к которым множество третьих выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются, тем самым электрически отделяются от множества первых контактных выводов, к которым соответственно, подключаются множество четвертых выбирающих межсоединений.

Как описано выше, подложка активной матрицы, дисплейное устройство и способ проверки подложки активной матрицы настоящего изобретения обеспечивают эффект возможности достоверного обнаружения коротких замыканий между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном и том же слое, посредством простой конфигурации в случае, если выбирающие межсоединения формируются в каждом из множества слоев.

Краткое описание чертежей

На чертежах:

Фиг. 1 изображает вид сверху, показывающий схематичную конфигурацию жидкокристаллической панели согласно варианту 1 осуществления настоящего изобретения;

Фиг. 2 изображает поперечный разрез по линии a-a' на фиг. 1;

Фиг. 3 изображает укрупненный вид части E 1 на фиг. 1;

Фиг. 4 изображает укрупненный вид части E 2 на фиг. 1;

Фиг. 5 изображает вид сверху, показывающий схематичную конфигурацию жидкокристаллической панели согласно модификации;

Фиг. 6 изображает укрупненный вид части, идентичной части E 1 , показанной на фиг. 1.

Лучший вариант осуществления изобретения

В вариантах осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений обрезаются так, что электрическая непрерывность не устанавливается между множеством первых контактных выводов, к которым множество третьих выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются, и множеством первых контактных выводов, к которым множество четвертых выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются. Этот режим приводит к электрическому отделению множества первых контактных выводов, к которым, соответственно, подключаются множество третьих выбирающих межсоединений, от множества первых контактных выводов, к которым, соответственно, подключаются множество четвертых выбирающих межсоединений.

В вариантах осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором резистивный элемент подключается, по меньшей мере, к одним из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения. В частности, предпочтительно осуществляется режим, в котором резистивный элемент подключается к каждым из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения. Этот режим предоставляет возможность обрезания объединенных межсоединений вместо первых соединительных межсоединений и вторых соединительных межсоединений в процессе обрезания в ходе изготовления и т.п. подложки активной матрицы. Другими словами, количество межсоединений, которые должны обрезаться, меньше, чем в случае обрезания первых соединительных межсоединений и вторых соединительных межсоединений. Как результат, может уменьшаться фактическое время в процессе обрезания. Кроме того, расстояние между межсоединениями, которые должны обрезаться, может увеличиваться, обеспечивая сокращение случаев возникновения повреждений, таких как замыкание накоротко смежных межсоединений вследствие остатков от обрезания, сформированных в ходе обрезания.

В вариантах осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором резистивный элемент, подключенный к первому соединительному межсоединению, и резистивный элемент, подключенный ко второму соединительному межсоединению, имеют практически идентичное значение сопротивления. Этот режим позволяет быть фактически эквивалентным величинам задержки сигналов проверки, которые должны вводиться в выбирающие межсоединения, соответствующие смежным соединительным межсоединениям, и в первые межсоединения, соответствующие выбирающим межсоединениям, в процессе проверки в ходе изготовления и т.п. подложки активной матрицы. Тем самым могут обнаруживаться повреждения, которые, хотя и не приводят к разъединению, возникают в случаях, к примеру, когда ширина межсоединения является очень малой.

В вариантах осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором каждое из множества объединенных межсоединений обрезано. Этот режим приводит к электрическому отделению множества первых контактных выводов, к которым множество третьих выбирающих межсоединений и множество четвертых выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются от первого общего межсоединения и второго общего межсоединения.

В вариантах осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором первые межсоединения являются межсоединениями затвора, а вторые межсоединения являются межсоединениями истока. Здесь, в режиме, в котором количество первых межсоединений и количество вторых межсоединений взаимно отличается, например, короткие замыкания между межсоединениями затвора, которые имеют высокую частоту отказов, могут обнаруживаться, если первые межсоединения являются межсоединениями затвора, в случае, если имеется больше первых межсоединений, чем вторых межсоединений. Установка возбуждающей схемы (драйвера) для межсоединений затвора на дефектной подложке активной матрицы, в которой короткое замыкание возникает между межсоединениями затвора, тем самым может предотвращаться. Таким образом, дополнительные материальные затраты и эксплуатационные затраты могут уменьшаться. Следует отметить, что возбуждающая схема для межсоединений затвора имеет простую конфигурацию по сравнению с возбуждающей схемой для межсоединений истока, которая подает сигналы истока (видеосигналы), соответствующие множеству градаций. В случае, если имеется больше первых межсоединений, чем вторых межсоединений, для сокращения размера области размещения контактных выводов и уменьшения стоимости подложек активной матрицы первые межсоединения предпочтительно являются межсоединениями затвора, а вторые межсоединения предпочтительно являются межсоединениями истока.

В вариантах осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором первые межсоединения являются межсоединениями истока, а вторые межсоединения являются межсоединениями затвора. Этот режим обеспечивает проверку для коротких замыканий между межсоединениями истока. Таким образом, поскольку возбуждающая схема (драйвер) для межсоединений истока должна подавать сигналы истока (видеосигналы), соответствующие множеству градаций, конфигурация является сложной по сравнению с возбуждающей схемой (драйвером) для межсоединений затвора. Другими словами, возбуждающая схема для межсоединений истока является дорогой по сравнению с возбуждающей схемой для межсоединений затвора. Установка возбуждающей схемы (драйвера) для межсоединений истока на дефектной подложке активной матрицы, в которой короткое замыкание возникает между межсоединениями истока, тем самым может предотвращаться. Таким образом, дополнительные материальные затраты и эксплуатационные затраты могут уменьшаться.

В варианте осуществления настоящего изобретения предпочтительно осуществляется режим, в котором способ проверки подложки активной матрицы согласно вариантам осуществления настоящего изобретения или дисплейного устройства, содержащего подложку активной матрицы согласно вариантам осуществления настоящего изобретения, включает в себя процессы проверки третьих выбирающих межсоединений и четвертых выбирающих межсоединений посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение и обрезания множества объединенных межсоединений после процесса проверки. Этот режим обеспечивает возможность обнаружения коротких замыканий между смежными третьими выбирающими межсоединениями и коротких замыканий между смежными четвертыми выбирающими межсоединениями посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение. Множество объединенных межсоединений затем обрезается в процессе обрезания. Первые контактные выводы, к которым множество третьих выбирающих межсоединений и множество четвертых выбирающих межсоединений, соответственно, подключаются, тем самым электрически отделяются из первого общего межсоединения и второго общего межсоединения.

Далее описаны варианты осуществления настоящего изобретения со ссылками на чертежи. На чертежах, упомянутых в дальнейшем в этом документе, тем не менее, для простоты описания, показаны в упрощенной форме, только главные элементы, необходимые для того, чтобы описать настоящее изобретение, из составляющих элементов вариантов осуществления настоящего изобретения. Соответственно, подложка активной матрицы согласно настоящему изобретению может содержать произвольные составляющие элементы, которые не показаны на чертежах, упомянутых в настоящем описании изобретения. Кроме того, размеры элементов на чертежах не предназначены для того, чтобы точно представлять фактические размеры составляющих элементов или размерные соотношения элементов.

Вышеуказанные первое и второе общие межсоединения описываются в настоящем варианте осуществления как первое проверочное межсоединение и второе проверочное межсоединение.

Первый вариант осуществления

Фиг. 1 изображает вид сверху, показывающий схематичную конфигурацию жидкокристаллической панели 1 согласно настоящему варианту осуществления. Как показано на фиг. 1, жидкокристаллическая панель 1 содержит подложку 2 активной матрицы и противоположную подложку 3, которая располагается напротив подложки 2 активной матрицы. Жидкокристаллический материал (не показан) удерживается между подложкой 2 активной матрицы и противоположной подложкой 3. Следует отметить, что слой цветных светофильтров, который включает в себя R (красные), G (зеленые) и B (синие) цветные светофильтры и черную матрицу, которая предотвращает попадание света между этими цветными светофильтрами, формируется на противоположной подложке 3 согласно настоящему варианту осуществления. Общие электроды формируются в слое цветных светофильтров.

Жидкокристаллическая панель 1 согласно настоящему варианту осуществления используется в электронном устройстве для мобильных терминалов, таком как, например, мобильный телефон, PDA (персональное цифровое устройство), PHS (система персональных мобильных телефонов) или HHT (карманный терминал). Кроме электронного устройства для мобильных терминалов, жидкокристаллическая панель 1 согласно настоящему варианту осуществления также используется в электронном устройстве, таком как игровой терминал, автомобильная навигационная система, персональный компьютер, телевизионный приемник, видеокамера или цифровая камера. Здесь, электронное устройство, содержащее жидкокристаллическую панель 1, является одним вариантом осуществления жидкокристаллического дисплейного устройства согласно настоящему изобретению. Следует отметить, что подложка 2 активной матрицы согласно настоящему варианту осуществления может быть предусмотрена в панели (дисплейном устройстве), отличной от жидкокристаллической панели 1, такой как дисплей с автоэлектронной эмиссией, плазменный дисплей, органический электролюминесцентный дисплей или неорганический электролюминесцентный дисплей.

Подложка 2 активной матрицы имеет область 4 отображения, область 5 размещения контактных выводов и область 6 периферийных межсоединений, которая находится за пределами области 4 отображения и окружает область 4 отображения. Следует отметить, что, в дальнейшем в этом документе, одна сторона жидкокристаллической панели 1 обозначается как первая сторона S 1 (нижняя сторона на фиг. 1), стороны слева и справа от данной первой стороны S 1 обозначаются, соответственно, как вторая сторона S 2 и третья сторона S 3 , а сторона, располагающаяся напротив первой стороны S 1 , обозначается как четвертая сторона S 4 .

Здесь, как показано на фиг. 1, длина H второй стороны S 2 (третьей стороны S 3 ) подложки 2 активной матрицы превышает длину L второй стороны S 2 (третьей стороны S 3 ) противоположной подложки 3. В случае, если подложка 2 активной матрицы и противоположная подложка 3 склеиваются через жидкокристаллический материал (не показан), область 5 размещения контактных выводов подложки 2 активной матрицы размещается ближе в направлении первой стороны S 1 , чем противоположная подложка 3.

Первые межсоединения 40 1 -40 7 затвора, вторые межсоединения 41 1 -41 7 затвора и межсоединения 42 1 , 42 2 , 42 3 ,...,42 i истока формируются в области 4 отображения. Здесь, первые межсоединения 40 1 -40 7 затвора, соответственно, имеют входные концы 43 1 -43 7 для стробирующих сигналов на одном конце. Кроме того, вторые межсоединения 41 1 -41 7 затвора, соответственно, имеют входные концы 44 1 -44 7 для стробирующих сигналов на противоположном конце. Дополнительно, межсоединения 42 1 , 42 2 , 42 3 ,...,42 i истока, соответственно, имеют входные концы 45 1 , 45 2 , 45 3 ,..., 45 i для сигналов истока на одном конце.

На фиг. 1 для простоты описания показано семь первых межсоединений 40 1 -40 7 затвора и семь вторых межсоединений 41 1 -41 7 затвора, но количество первых межсоединений затвора и вторых межсоединений затвора, которые должны формироваться в области 4 отображения, фактически превышает его. Количество первых межсоединений затвора и вторых межсоединений затвора, тем не менее, является произвольным и конкретно не ограничено.

Следует отметить, что, в дальнейшем в этом документе только в случае, если отдельные межсоединения должны различаться, описание приводится с присоединенными нижними индексами для различения отдельных межсоединений, например, таких как межсоединение 42 1 истока, а в случае, если отдельные межсоединения не должны конкретно различаться, либо в случае, если на межсоединения ссылаются совместно, приводится описание без присоединения нижних индексов, как, например, межсоединения 42 истока. Кроме того, в дальнейшем в этом документе в случаях, если первые межсоединения 40 1 -40 7 затвора и вторые межсоединения 41 1 -41 7 затвора необязательно должны различаться или упоминаются совместно, описание ссылается просто на межсоединения 40 и 41 затвора.

В настоящем варианте осуществления первые межсоединения 40 1 -40 7 затвора и вторые межсоединения 41 1 -41 7 затвора формируются в области 4 отображения попеременно в расчете на каждые межсоединения и так, чтобы быть параллельными друг другу. Таким образом, межсоединения 40 и 41 затвора формируются в области 4 отображения, чтобы размещаться от четвертой стороны S 4 в направлении первой стороны S 1 следующим образом: первое межсоединение 40 1 затвора, второе межсоединение 41 1 затвора, первое межсоединение 40 2 затвора, второе межсоединение 41 2 затвора, первое межсоединение 40 3 затвора, второе межсоединение 41 3 затвора и т.д. Межсоединения 42 1 , 42 2 , 42 3 ,...,42 i истока формируются в области 4 отображения параллельно друг другу и так, чтобы пересекать межсоединения 40 и 41 затвора.

В настоящем варианте осуществления межсоединения 42 истока формируются в области 4 отображения в расчете на RGB. Другими словами, межсоединения 42 истока для R, межсоединения 42 истока для G и межсоединения 42 истока для B формируются в области 4 отображения. В случае монохромной жидкокристаллической панели 1, тем не менее, настоящее изобретение не ограничено этим. Дополнительно, кроме межсоединений 40 и 41 затвора и межсоединений 42 истока, межсоединения накопительного конденсатора (не показаны) формируются в области 4 отображения. Межсоединения накопительного конденсатора формируются в области 4 отображения так, чтобы быть параллельными межсоединениям 40 и 41 затвора.

Следует отметить, что переключающие элементы, такие как TFT (тонкопленочные транзисторы) или MIM (структура "металл-диэлектрик-металл") (не показаны) и электроды элементов изображений (R, G или B) (не показаны), подключенные к этим переключающим элементам, формируются в пересекающихся частях межсоединений 40 и 41 затвора и межсоединений 42 истока.

Область 5 размещения контактных выводов является областью, в которой множество контактных выводов 51 затвора и множество контактных выводов 52 истока размещаются на подложке 2 активной матрицы. Драйвер или подложка на основе гибких межсоединений, снабженная драйвером, электрически подключена к контактным выводам 51 затвора и контактным выводам 52 истока в области 5 размещения контактных выводов. Контактные выводы 51 затвора тем самым являются контактными выводами, в которые стробирующие сигналы могут вводиться из драйвера. Контактные выводы 52 истока являются контактными выводами, в которые сигналы истока могут вводиться из драйвера. Следует отметить, что драйвер может подключаться в области 5 размещения контактных выводов посредством способа COG (для монтажа на стеклянную подложку).

Кроме того, подложка на основе гибких межсоединений, содержащая драйвер, может подключаться в области 5 размещения контактных выводов посредством способа TCP (ленточного кристаллоносителя). Следует отметить, что способ соединения конкретно не ограничен здесь.

Следует отметить, что фиг. 1 изображает пример, в котором один драйвер может быть расположен в области 5 размещения контактных выводов, но настоящее изобретение не ограничено этим. Например, посредством обеспечения множества областей 5 размещения контактных выводов на подложке 2 активной матрицы может быть осуществлена конфигурация, в которой множество драйверов может быть расположено в каждой из множества областей 5 размещения контактных выводов.

Расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора (первые, выбирающие межсоединения), соответственно, соединяющие контактные выводы 51 затвора и входные концы 43 1 -43 7 для стробирующих сигналов, предоставленных на одном конце первых межсоединений 40 1 -40 7 затвора, формируются в области 6 периферийных межсоединений. Таким образом, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора выбираются из входных концов 43 1 -43 7 для стробирующих сигналов в направлении третьей стороны S 3 , формируются в области 6 периферийных межсоединений вдоль третьей стороны S 3 и подключаются к контактным выводам 51 затвора.

Здесь, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора включают в себя первые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора (третьи выбирающие межсоединения) и вторые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора (четвертые выбирающие межсоединения). Первые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора являются выбирающими межсоединениями, сформированными в слое, идентичном слою, в котором формируются межсоединения 40 и 41 затвора. Следует отметить, что, в дальнейшем в этом документе, слой, в котором формируются межсоединения 40 и 41 затвора, упоминается как "первый слой". Вторые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора являются выбирающими межсоединениями, из которых, по меньшей мере, часть формируется в слое, отличном от слоя (первого слоя), в котором межсоединения 40-41 затвора формируются с размещенным между ними изоляционным материалом. Следует отметить, что, в дальнейшем в этом документе, слой, отличный от слоя, в котором формируются межсоединения 40 и 41 затвора, упоминается как "второй слой". Другими словами, межсоединения 42 истока формируются во втором слое.

Здесь, вторые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора, соответственно, имеют первые соединительные части 62 2 , 62 4 и 62 6 в слое межсоединений, сформированные рядом с входными концами 43 2 , 43 4 и 43 6 для стробирующих сигналов, и вторые соединительные части 63 2 , 63 4 и 63 6 в слое межсоединений, сформированные рядом с контактными выводами 51 затвора. В настоящем варианте осуществления межсоединение вторых, расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора между входными концами 43 2 , 43 4 и 43 6 для стробирующих сигналов и первыми соединительными частями 62 2 , 62 4 и 62 6 в слое межсоединений формируется в первом слое, межсоединение между первыми соединительными частями 62 2 , 62 4 и 62 6 в слое межсоединений и вторыми соединительными частями 63 2 , 63 4 и 63 6 в слое межсоединений формируется во втором слое и межсоединение между вторыми соединительными частями 63 2 , 63 4 и 63 6 в слое межсоединений и контактными выводами 51 затвора формируется в первом слое. Таким образом, межсоединение, сформированное в первом слое, и межсоединение, сформированное во втором слое, соответственно, электрически подключены к первым соединительным частям 62 2 , 62 4 и 62 6 в слое межсоединений и вторым соединительным частям 63 2 , 63 4 и 63 6 в слое межсоединений.

Следует отметить, что относительно способа электрического подключения межсоединений, межсоединение, сформированное в первом слое, и межсоединение, сформированное во втором слое, могут непосредственно соединяться через контактные окна, сформированные в изоляционном материале, или межсоединение, сформированное в первом слое, и межсоединение, сформированное во втором слое, могут быть электрически подключены через электроды, дополнительно сформированные в отдельном слое. Таким образом, относительно способа электрического подключения межсоединения могут использоваться различные произвольные способы, причем способ конкретно не ограничен здесь. Кроме того, положения первых соединительных частей 62 2 , 62 4 и 62 6 в слое межсоединений и вторых соединительных частей 63 2 , 63 4 и 63 6 в слое межсоединений являются произвольными и не ограничиваются положениями, показанными на фиг. 1.

Фиг. 2 изображает поперечный разрез по линии a-a' на фиг. 1. Как показано на фиг. 2, первые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора формируются как первый слой на подложке 2 активной матрицы. Изолирующая пленка (изоляционный материал) 7 формируется на подложке 2 активной матрицы, чтобы покрывать первые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора. Вторые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора формируются как второй слой на изолирующей пленке 7. Дополнительно, защитная пленка 8 формируется на изолирующей пленке 7, чтобы покрывать вторые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора. Таким образом, изолирующая пленка 7 вставляется между первыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора и вторыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора.

Таким образом, в настоящем варианте осуществления первые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора формируются в первом слое, и, по меньшей мере, часть вторых, расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора формируются во втором слое. Более компактная подложка активной матрицы более высокого разрешения тем самым может осуществляться по сравнению с режимом, в котором все расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора формируются в одном слое.

Фиг. 3 изображает укрупненный вид части E 1 , показанной на фиг. 1. Как показано на фиг. 3, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 -64 7 затвора дополнительно, соответственно, подключаются к множеству контактных выводов 51 затвора, к которым подключаются расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора. Таким образом, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 -64 7 затвора, соответственно, выбираются из множества контактных выводов 51 затвора в направлении первой стороны S 1 (рядом с проверочными межсоединениями 66 и 67, описанными ниже).

Здесь, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 -64 7 затвора включают в себя первые, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 , 64 3 , 64 5 и 64 7 затвора (первые соединительные межсоединения) и вторые, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 2 , 64 4 и 64 6 затвора (вторые соединительные межсоединения). Первые, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 , 64 3 , 64 5 и 64 7 затвора являются соединительными межсоединениями, которые подключаются к контактным выводам 51 затвора, к которым подключаются первые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора, вторые, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 2 , 64 4 и 64 6 затвора являются соединительными межсоединениями, которые подключаются к контактным выводам 51 затвора, к которым подключаются вторые, расположенные с правой стороны, выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора.

Расположенные с правой стороны объединенные межсоединения (объединенные межсоединения) 65 1 -65 4 , каждое из которых состоит из взаимно смежных первого, расположенного с правой стороны соединительного межсоединения затвора, и второго, расположенного с правой стороны соединительного межсоединения затвора, объединенных друг с другом, формируются в области 6 периферийных межсоединений. В настоящем варианте осуществления расположенное с правой стороны объединенное межсоединение 65 1 объединяет два межсоединения, а именно, первое, расположенное с правой стороны соединительное межсоединение 64 1 затвора, и второе, расположенное с правой стороны соединительное межсоединение 64 2 затвора, в одно межсоединение. Кроме того, расположенное с правой стороны объединенное межсоединение 65 2 объединяет первое, расположенное с правой стороны соединительное межсоединение 64 3 затвора, и второе, расположенное с правой стороны соединительное межсоединение 64 4 затвора, в одно межсоединение. Дополнительно, расположенное с правой стороны объединенное межсоединение 65 3 объединяет первое, расположенное с правой стороны соединительное межсоединение 64 5 затвора, и второе, расположенное с правой стороны соединительное межсоединение 64 6 затвора, в одно межсоединение. Следует отметить, что расположенное с правой стороны объединенное межсоединение 65 4 подключается только к одному межсоединению, а именно, к первому, расположенному с правой стороны соединительному межсоединению 64 7 затвора.

Первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора дополнительно подключается к расположенным с правой стороны объединенным межсоединениям 65 2 и 65 4 . Кроме того, второе, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 67 затвора подключается к расположенным с правой стороны объединенным межсоединениям 65 1 и 65 3 по первому расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 66 затвора. Таким образом, первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора является проверочным межсоединением, допускающим ввод сигнала проверки в несмежные, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 2 и 65 4 , из расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 1 -65 4 . Второе, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 67 затвора является проверочным межсоединениям, допускающими ввод сигнала проверки в несмежные, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 и 65 3 , которые не подключены к первому, расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 66 затвора, из расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 1 -65 4 .

Следует отметить, что, поскольку второе, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 67 затвора подключается к расположенным с правой стороны объединенным межсоединениям 65 1 и 65 3 через первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 и 65 3 , соответственно, имеют третьи соединительные части 68 1 и 68 3 в слое межсоединений и четвертые соединительные части 69 1 и 69 3 в слое межсоединений. Таким образом, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 и 65 3 , и второе, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 67 затвора, соответственно, электрически подключены к четвертым соединительным частям 69 1 и 69 3 в слое межсоединений.

Первая, расположенная с правой стороны проверочная контактная площадка 70 затвора дополнительно подключается к первому, расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 66 затвора. Первая расположенная с правой стороны проверочная контактная площадка 70 затвора является контактной площадкой, в которую может вводиться сигнал проверки. Сигнал проверки тем самым может вводиться в расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 3 , 61 4 и 61 7 затвора из первой, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадки 70 затвора, через расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 2 и 65 4 и расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 3 , 64 4 и 64 7 затвора. Дополнительно, вторая, расположенная с правой стороны проверочная контактная площадка 71 затвора дополнительно подключается ко второму расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 67 затвора. Вторая расположенная с правой стороны проверочная контактная площадка 71 затвора является также контактной площадкой, в которую может вводиться сигнал проверки. Сигнал проверки тем самым может вводиться в расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 , 61 2 , 61 5 и 61 6 затвора из второй, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадки 71 затвора, через расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 и 65 3 и расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 , 64 2 , 64 5 и 64 6 затвора.

Как описано выше, посредством подложки 2 активной матрицы согласно настоящему варианту осуществления формируются расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 -65 4 , каждое из которых состоит из взаимно смежных первого, расположенного с правой стороны соединительного межсоединения затвора, и второго, расположенного с правой стороны соединительного межсоединения затвора, объединенных друг с другом, причем расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 2 и 65 4 подключаются к первому, расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 66 затвора, а расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 и 65 3 подключаются ко второму, расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 67 затвора. Пространство между межсоединениями тем самым может увеличиваться, и количество соединительных частей в слое межсоединений может сокращаться по сравнению с режимом, в котором каждое из расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора непосредственно подключается к первому, расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 66 затвора или второму, расположенному с правой стороны проверочному межсоединению 67 затвора без предоставления расположенных с правой стороны объединенных межсоединений. Таким образом, короткие замыкания между расположенными с правой стороны объединенными межсоединениями 65 1 -65 4 практически никогда не возникают, поскольку разнесение между расположенными с правой стороны объединенными межсоединениями 65 1 -65 4 (K на фиг. 3) может увеличиваться. Кроме того, повреждения соединений и т.п. в соединительных частях в слое межсоединений могут уменьшаться вследствие возможности сокращать количество соединительных частей в слое межсоединений. Как результат, объем выпуска годных жидкокристаллических панелей 1 повышается вследствие возможности достоверно проверять (для разъединения, коротких замыканий и т.д.) подложку 2 активной матрицы.

Кроме того, посредством подложки 2 активной матрицы согласно настоящему варианту осуществления формирование расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 1 -65 4 , каждое из которых состоит из взаимно смежных первого, расположенного с правой стороны соединительного межсоединения затвора, и второго, расположенного с правой стороны соединительного межсоединения затвора, объединенных друг с другом, обеспечивают возможность уменьшения количества межсоединений, идущих с первого, расположенного с правой стороны проверочного межсоединения 66 затвора (т.е. количества пересекающихся частей, расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 1 -65 4 , и первого, расположенного с правой стороны проверочного межсоединения 66 затвора). Возможность сокращать количество пересекающихся частей обеспечивает уменьшение нагрузки на первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора. Возможность уменьшать нагрузку обеспечивает снижение задержки ввода сигналов проверки из первой, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадки 70 затвора, в первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора. Как результат, мелкие дефекты, такие как короткие замыкания между электродами элементов изображений и межсоединениями 42 истока, могут обнаруживаться, поскольку требуемые сигналы проверки могут вводиться в межсоединения 40 и 41 затвора.

Дополнительно, согласно подложке 2 активной матрицы настоящего варианта осуществления, первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора подключается к каждому из расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 2 и 65 4 , и второе, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 67 затвора подключается к каждому из расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 1 и 65 3 . Статическое электричество, сформированное в подложке 2 активной матрицы, тем самым может исключаться или рассеиваться из первого, расположенного с правой стороны проверочного межсоединения 66 затвора, и второго, расположенного с правой стороны проверочного межсоединения 67 затвора. Возможность исключать или рассеивать статическое электричество, сформированное в подложке 2 активной матрицы, обеспечивает подавление короткого замыкания или разъединения вследствие статического электричества, а также подавление изменений в характеристиках TFT или MIM и т.п.

Следует отметить, что эффекты, аналогичные описанным выше, получаются относительно расположенных с левой стороны соединительных межсоединений 75 1 -75 7 затвора, расположенных с левой стороны объединенных межсоединений 76 1 -76 4 , первого, расположенного с левой стороны проверочного межсоединения 77 затвора, и второго, расположенного с левой стороны проверочного межсоединения 78 затвора, которые описываются ниже.

Возвращаясь к фиг. 1, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 -72 7 затвора, соответственно, соединяющие контактные выводы 51 затвора и входные концы 44 1 -44 7 для стробирующих сигналов, предоставленных на противоположном конце вторых межсоединений 41 1 -41 7 затвора, формируются в области 6 периферийных межсоединений. Таким образом, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 -72 7 затвора выбираются из входных концов 44 1 -44 7 для стробирующих сигналов в направлении второй стороны S 2 , формируются в области 6 периферийных межсоединений вдоль второй стороны S 2 и подключаются к контактным выводам 51 затвора.

Здесь, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 -72 7 затвора включают в себя первые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 , 72 3 , 72 5 и 72 7 затвора, и вторые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора. Первые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 , 72 3 , 72 5 и 72 7 затвора являются выбирающими межсоединениями, сформированными в первом слое. Вторые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора являются выбирающими межсоединениями, сформированными во втором слое.

Здесь, вторые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора, соответственно, имеют пятые соединительные части 73 2 , 73 4 и 73 6 в слое межсоединений, сформированные рядом с входными концами 44 2 , 44 4 и 44 6 для стробирующих сигналов, и шестые соединительные части 74 2 , 74 4 и 74 6 в слое межсоединений, сформированные рядом с контактными выводами 51 затвора. В настоящем варианте осуществления межсоединения вторых расположенных с левой стороны выбирающих межсоединений 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора между входными концами 44 2 , 44 4 и 44 6 для стробирующих сигналов и пятыми соединительными частями 73 2 , 73 4 и 73 6 в слое межсоединений формируются в первом слое, межсоединения между пятыми соединительными частями 73 2 , 73 4 и 73 6 в слое межсоединений и шестыми соединительными частями 74 2 , 74 4 и 74 6 в слое межсоединений формируется во втором слое и межсоединения между шестыми соединительными частями 74 2 , 74 4 и 74 6 в слое межсоединений и контактными выводами 51 затвора формируются в первом слое. Таким образом, межсоединения, сформированные в первом слое, и межсоединения, сформированные во втором слое, соответственно, электрически подключены к пятым соединительным частям 73 2 , 73 4 и 73 6 в слое межсоединений и шестым соединительным частям 74 2 , 74 4 и 74 6 в слое межсоединений.

Фиг. 4 изображает укрупненный вид части E 2 , показанной на фиг. 1. Как показано на фиг. 4, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 -75 7 затвора дополнительно, соответственно, подключаются к множеству контактных выводов 51 затвора, к которым подключаются расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 -72 7 затвора. Таким образом, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 -75 7 затвора, соответственно, выбираются из множества контактных выводов 51 затвора в направлении первой стороны S 1 (рядом с проверочными межсоединениями 77 и 78, описанными ниже).

Здесь, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 -75 7 затвора включают в себя первые, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 , 75 3 , 75 5 и 75 7 затвора, и вторые, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 2 , 75 4 и 75 6 затвора. Первые, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 , 75 3 , 75 5 и 75 7 затвора являются соединительными межсоединениями, которые подключаются к контактным выводам 51 затвора, к которым подключаются первые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 , 72 3 , 72 5 и 72 7 затвора. Вторые, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 2 , 75 4 и 75 6 затвора являются соединительными межсоединениями, которые подключаются к контактным выводам 51 затвора, к которым подключаются вторые, расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора.

Расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 1 -76 4 , каждое из которых состоит из взаимно смежного первого, расположенного с левой стороны соединительного межсоединения затвора, и второго, расположенного с левой стороны соединительного межсоединения затвора, объединенных друг с другом, формируются в области 6 периферийных межсоединений. В настоящем варианте осуществления расположенное с левой стороны объединенное межсоединение 76 1 объединяет два межсоединения, а именно, первое, расположенное с левой стороны соединительное межсоединение 75 1 затвора, и второе, расположенное с левой стороны соединительное межсоединение 75 2 затвора, в одно межсоединение. Кроме того, расположенное с левой стороны объединенное межсоединение 76 2 объединяет первое, расположенное с левой стороны соединительное межсоединение 75 3 затвора, и второе, расположенное с левой стороны соединительное межсоединение 75 4 затвора в одно межсоединение. Дополнительно, расположенное с левой стороны объединенное межсоединение 76 3 объединяет первое, расположенное с левой стороны соединительное межсоединение 75 5 затвора, и второе, расположенное с левой стороны соединительное межсоединение 75 6 затвора, в одно межсоединение. Следует отметить, что расположенное с левой стороны объединенное межсоединение 76 4 подключается только к первому, расположенному с левой стороны соединительному межсоединению 75 7 затвора.

Первое, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 77 затвора дополнительно подключается к расположенным с левой стороны объединенным межсоединениям 76 2 и 76 4 . Второе, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 78 затвора подключается к расположенным с левой стороны объединенным межсоединениям 76 1 и 76 3 через первое, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 77 затвора. Таким образом, первое, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 77 затвора является проверочным межсоединением, допускающими ввод сигнала проверки в несмежные, расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 2 и 76 4 , из расположенных с левой стороны объединенных межсоединений 76 1 -76 4 . Кроме того, второе, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 78 затвора является проверочным межсоединением, допускающими ввод сигнала проверки в несмежные, расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 1 и 76 3 , которые не подключены к первому, расположенному с левой стороны проверочному межсоединению 77 затвора, из расположенных с левой стороны объединенных межсоединений 76 1 -76 4 .

Следует отметить, что, поскольку второе, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 78 затвора подключается к расположенным с левой стороны объединенным межсоединениям 76 1 и 76 3 по первому, расположенному с левой стороны проверочному межсоединению 77 затвора, расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 1 и 76 3 , соответственно, имеют седьмые соединительные части 79 1 и 79 3 в слое межсоединений и восьмые соединительные части 80 1 и 80 3 в слое межсоединений. Таким образом, расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 1 и 76 3 , и второе, расположенное с левой стороны проверочное межсоединение 78 затвора, соответственно, электрически подключены к восьмым соединительным частям 80 1 и 80 3 в слое межсоединений.

Первая, расположенная с левой стороны проверочная контактная площадка 81 затвора дополнительно подключается к первому, расположенному с левой стороны проверочному межсоединению 77 затвора. Первая, расположенная с левой стороны проверочная контактная площадка 81 затвора является контактной площадкой, в которую может вводиться сигнал проверки. Сигнал проверки тем самым может вводиться в расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 3 , 72 4 и 72 7 затвора из первой, расположенной с левой стороны проверочной контактной площадки 81 затвора, через расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 2 и 76 4 и расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 3 , 75 4 и 75 7 затвора. Дополнительно, вторая, расположенная с левой стороны проверочная контактная площадка 82 затвора дополнительно подключается ко второму, расположенному с левой стороны проверочному межсоединению 78 затвора. Вторая, расположенная с левой стороны проверочная контактная площадка 82 затвора является также контактной площадкой, в которую может вводиться сигнал проверки. Сигнал проверки тем самым может вводиться в расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 , 72 2 , 72 5 и 72 6 затвора из второй, расположенной с левой стороны проверочной контактной площадки 82 затвора, через расположенные с левой стороны объединенные межсоединения 76 1 и 76 3 и расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 , 75 2 , 75 5 и 75 6 затвора.

Возвращаясь к фиг. 1, выбирающие межсоединения 83 1 , 83 2 , 83 3 ,..., 83 i истока, соответственно, соединяющие контактные выводы 52 истока и входные концы 45 1 , 45 2 , 45 3 ,... 45 для сигналов истока, предоставленных на одном конце межсоединений 42 1 , 42 2 , 42 3 ,...., 42 истока, формируются в области 6 периферийных межсоединений. Таким образом, выбирающие межсоединения 83 истока выбираются из входных концов 45 для сигналов истока в направлении первой стороны S 1 и подключаются к контактным выводам 52 истока.

Здесь, соединительные межсоединения 84 1 , 84 2 , 84 3 ,..., 84 истока дополнительно, соответственно, подключаются к контактным выводам 52 истока, к которым подключаются выбирающие межсоединения 83 1 , 83 2 , 83 3 ,..., 83 i истока. Таким образом, соединительные межсоединения 84 1 , 84 2 , 84 3 ,..., 84 i истока, соответственно, выбираются из множества контактных выводов 52 истока в направлении первой стороны S i (рядом с проверочными межсоединениями 85 и 86, поясненными ниже).

Первое проверочное межсоединение 85 истока дополнительно подключается к соединительным межсоединениям 84 1 , 84 3 , 84 5 ,..., 84 i истока. Второе проверочное межсоединение 86 истока дополнительно подключается к соединительным межсоединениям 84 2 , 84 4 , 84 6 ,..., 84 i-1 истока. Таким образом, первое проверочное межсоединение 85 истока является проверочным межсоединением, допускающим ввод сигнала проверки в соединительные межсоединения 84 1 , 84 3 , 84 5 ,..., 84 i истока, которые не находятся рядом друг с другом, из множества соединительных межсоединений 84 1 , 84 2 , 84 3 ,..., 84 i истока. Второе проверочное межсоединение 86 истока является проверочным межсоединением, допускающим ввод сигнала проверки в соединительные межсоединения 84 2 , 84 4 , 84 6 ,..., 84 i-1 истока, которые не смежены друг с другом и не подключены к первому проверочному межсоединению 85 истока, из множества соединительных межсоединений 84 1 , 84 2 , 84 3 ,..., 84 i истока.

Первая проверочная контактная площадка 87 истока дополнительно подключается к первому проверочному межсоединению 85 истока. Первая проверочная контактная площадка 87 истока является контактной площадкой, в которую может вводиться сигнал проверки. Сигнал проверки тем самым может вводиться в выбирающие межсоединения 83 1 , 83 3 , 83 5 ,..., 83 i истока из первой проверочной контактной площадки 87 истока через первое проверочное межсоединение 85 истока и соединительные межсоединения 84 1 , 84 3 , 84 5 ,..., 84 i истока. Дополнительно, вторая проверочная контактная площадка 88 истока дополнительно подключается ко второму проверочному межсоединению 86 истока. Вторая проверочная контактная площадка 88 истока является также контактной площадкой, в которую может вводиться сигнал проверки. Сигнал проверки тем самым может вводиться в выбирающие межсоединения 83 2 , 83 4 , 83 6 ,..., 83 i-1 истока из второй проверочной контактной площадки 88 истока через второе проверочное межсоединение 86 истока и соединительные межсоединения 84 2 , 84 4 , 84 6 ,..., 84 i-1 истока.

Дополнительно, общее проверочное межсоединение 89 формируется в области 6 периферийных межсоединений, чтобы помещать расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора и расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 -72 7 затвора. Общие электродные контактные площадки 90 и 91 подключаются к общему проверочному межсоединению 89. Передающие контактные площадки 92 и 93 дополнительно подключаются к общему проверочному межсоединению 89. Передающие контактные площадки 92 и 93 подключаются к общим электродам (не показаны), которые формируются на противоположной подложке 3. Общее напряжение тем самым может прикладываться к общим электродам, сформированным на противоположной подложке 3, из общих электродных контактных площадок 90 и 91.

Далее описывается способ изготовления жидкокристаллической панели 1 согласно настоящему варианту осуществления. Следует отметить, что в дальнейшем в этом документе, в частности, подробно описывается процесс проверки состояния электрического подключения жидкокристаллической панели 1.

Таким образом, тонкие пленки, такие как проводящая пленка, изолирующая пленка и защитная пленка, ламинируются на прозрачной стеклянной подложке, чтобы изготавливать базовую подложку для подложек активной матрицы, на которой формируются множество областей подложек активной матрицы, которые должны вырезаться как подложки 2 активной матрицы. Кроме того, тонкие пленки, такие как черная матрица, цветные светофильтры, проводящая пленка и ориентационная пленка, ламинируются на прозрачной стеклянной подложке, чтобы изготавливать базовую подложку для противоположных подложек, на которой формируются множество областей противоположных подложек, которые должны вырезаться как противоположные подложки 3. Герметик наносится на одну из двух несущих подложек. Две несущие подложки затем склеиваются после того, как герметик нанесен.

Две склеенные несущие подложки затем секционируются как материнские подложки, из которых формируется заданное количество (например, четыре в горизонтальном направлении) жидкокристаллических панелей 1, имеющих подложку 2 активной матрицы и противоположную подложку 3. Таким образом, жидкокристаллическая панель 1, показанная на фиг. 1, является одной жидкокристаллической панелью, которая секционирована как материнская подложка, в которую введен жидкокристаллический материал. Соответственно, хотя их иллюстрация опущена, другие жидкокристаллические панели существуют, например, слева и справа от жидкокристаллической панели 1, показанной на фиг. 1. Жидкокристаллический материал вводится в каждую жидкокристаллическую панель 1, секционированную как материнские подложки, с использованием вакуумно-инжекционного способа, например, через входное отверстие, сформированное между подложкой 2 активной матрицы и противоположной подложкой 3. Следует отметить, что жидкокристаллический материал может вводиться с помощью способа капельного заполнения вместо вакуумно-инжекционного способа. В этом случае ни входное отверстие, ни процесс герметизации части входного отверстия не требуются.

Затем выполняется процесс проверки состояния электрического подключения жидкокристаллической панели 1 до присоединения драйвера в области 5 размещения контактных выводов. Таким образом, процесс проверки реализуется для проверки разъединения или короткого замыкания межсоединений и поиска дефектов электрода элементов изображений в подложке 2 активной матрицы жидкокристаллической панели 1.

Что касается способа проверки, например, проверочный щуп приводится в соприкосновение с каждой из проверочных контактных площадок 70, 71, 81, 82, 87, 88, 90 и 91, и заданное напряжение прикладывается к нему. Следует отметить, что порядок, в котором проверочный щуп приводится в соприкосновение с проверочными контактными площадками 70, 71, 81, 82, 87, 88, 90 и 91, конкретно здесь не ограничен. Стробирующий сигнал, который выступает в качестве сигнала сканирования, тем самым вводится в межсоединения 40 и 41 затвора. Следует отметить, что этот сигнал проверки является сигналом, который включает переключающий элемент каждого элемента изображения в течение фиксированного периода. Кроме того, сигнал проверки, который выступает в качестве сигнала истока, вводится в межсоединения 42 истока. Следует отметить, что этот сигнал проверки является сигналом, который ориентирует жидкий кристалл в каждой области элементов отображения в требуемом направлении.

Когда молекулярное ориентационное направление жидкого кристалла управляется как результат сигнала проверки, который выступает в качестве сигнала истока, вводимого в каждый электрод элементов изображений, причем переключающий элемент каждого элемента изображения во включенном состоянии, и жидкокристаллическая панель 1 облучается с задней поверхности посредством средства облучения, такого как задняя подсветка, например, изображение должно отображаться на экране дисплея жидкокристаллической панели 1 согласно области 4 отображения подложки 2 активной матрицы (в дальнейшем в этом документе "экран дисплея жидкокристаллической панели 1"). Соответственно, проверка может выполняться на предмет разъединения и короткого замыкания межсоединений в подложке 2 активной матрицы жидкокристаллической панели 1, например, посредством визуальной проверки экрана дисплея жидкокристаллической панели 1 инспектором. Следует отметить, что может использоваться устройство распознавания изображений вместо или помимо визуальной проверки инспектором, или проверка может выполняться с использованием устройства обнаружения и т.п., которое электрически обнаруживает разъединение или короткое замыкание межсоединений.

Далее описывается способ обнаружения коротких замыканий, расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 1 -61 7 затвора. В частности, во-первых, проверочный щуп приводится в соприкосновение с первой проверочной контактной площадкой 87 истока, второй проверочной контактной площадкой 88 истока и общими электродными контактными площадками 90 и 91. В этом состоянии взаимно независимые сигналы проверки вводятся в первое, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 66 затвора и второе, расположенное с правой стороны проверочное межсоединение 67 затвора. Например, проверочный щуп приводится в соприкосновение только со второй, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадкой 71 затвора и не приводится в соприкосновение с первой, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадкой 70 затвора. Это приводит к вводу сигнала проверки в расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 , 61 2 , 61 5 и 61 6 затвора из второй, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадки 71 затвора через расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 и 65 3 и расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 , 64 2 , 64 5 и 64 6 затвора. С другой стороны, поскольку проверочный щуп не соприкасается с первой, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадкой 70 затвора, сигнал проверки не вводится в расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 3 , 61 4 и 61 7 затвора из первой, расположенной с правой стороны проверочной контактной площадки 70 затвора.

Таким образом, сигнал проверки вводится только в первые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 и 61 5 затвора из первых, расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора в первом слое (см. фиг. 2). Таким образом, в случае, если имеется короткое замыкание между первыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора, сформированными в первом слое, не только линии, соответствующие первым межсоединениям 40 1 и 40 5 затвора, подключенные к первым, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям 61 1 и 61 5 затвора, в которые сигнал проверки вводится, отображаются на экране дисплея жидкокристаллической панели 1, но также отображаются и линии, соответствующие первым межсоединениям 40 3 и 40 7 затвора, подключенным к первым, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям 61 3 и 61 7 затвора, в которые сигнал проверки не вводится. Таким образом, инспектор может обнаруживать, что имеется короткое замыкание между расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора, сформированными в первом слое. Кроме того, сигнал проверки вводится только во вторые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 2 и 61 6 затвора, из вторых, расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора во втором слое (см. фиг. 2). Таким образом, в случае, если имеется короткое замыкание между вторыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора, сформированными во втором слое, не только линии, соответствующие первым межсоединениям 40 2 и 40 6 затвора, подключенным ко вторым, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям 61 2 и 61 6 затвора, в которые сигнал проверки вводится, отображаются, но и линии, соответствующие первым межсоединениям 40 4 затвора, подключенным ко вторым, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям 61 4 затвора, в которые сигнал проверки не вводится, также отображаются. Таким образом, инспектор может обнаруживать, что имеется короткое замыкание между вторыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора, сформированными во втором слое.

Кроме того, аналогично вышеуказанному, например, проверочный щуп приводится в соприкосновение только со второй, расположенной с левой стороны проверочной контактной площадкой 82 затвора и не приводится в соприкосновение с первой, расположенной с левой стороны проверочной контактной площадкой 81 затвора. Инспектор тем самым может обнаруживать короткое замыкание между первыми, расположенными с левой стороны выбирающими межсоединениями 72 1 , 72 3 , 72 5 и 72 7 затвора, сформированными в первом слое, и короткое замыкание между вторыми, расположенными с левой стороны выбирающими межсоединениями 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора, сформированными во втором слое.

Следует отметить, что в случае, если расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 -61 7 затвора разъединены, все линии, соответствующие первым межсоединениям затвора, подключенным к разъединенным, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям затвора, не отображаются. Аналогично, в случае, если расположенные с левой стороны выбирающие межсоединения 72 1 -72 7 затвора разъединены, все линии, соответствующие вторым межсоединениям затвора, подключенным к разъединенным, расположенным с левой стороны выбирающим межсоединениям затвора, не отображаются на экране дисплея жидкокристаллической панели 1. Инспектор тем самым может обнаруживать разъединение расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 1 -61 7 затвора и расположенных с левой стороны выбирающих межсоединений 72 1 -72 7 затвора.

Кроме того, в случае, если межсоединения 40 и 41 затвора разъединены, линии, соответствующие межсоединениям затвора в и после местоположения разъединения, не отображаются на экране дисплея жидкого кристалла 1. Аналогично, в случае, если межсоединения 42 истока разъединены, линии, соответствующие межсоединениям истока в и после местоположения разъединения, не отображаются на экране дисплея с жидкими кристаллами 1. Инспектор тем самым может обнаруживать разъединение межсоединений 40 и 41 затвора и межсоединений 42 истока. Ввод взаимно независимых сигналов проверки в первое проверочное межсоединение 85 истока и второе проверочное межсоединение 86 истока предоставляет возможность инспектору обнаруживать короткое замыкание межсоединений 42 истока и выбирающих межсоединений 83 истока.

Дополнительно, ввод сигнала проверки, имеющего форму импульса, требуемую инспектором, в межсоединения 40 и 41 затвора и межсоединения 42 истока также предоставляет возможность обнаружения коротких замыканий между электродами элементов изображений и межсоединениями 42 истока. Таким образом, может выполняться не только проверка на предмет короткого замыкания и разъединения межсоединений 40 и 41 затвора, межсоединений 42 истока, расположенных с правой стороны выбирающих межсоединений 61 затвора и расположенных с левой стороны выбирающих межсоединений 72 затвора, но также и проверка на предмет дефектов в электродах элементов изображений и т.п..

После того, как вышеуказанный процесс проверки завершен, выполняется процесс обрезания расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора и расположенных с левой стороны соединительных межсоединений 75 1 -75 7 затвора. В частности, расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 -64 7 затвора обрезаются вдоль линии C обрезки, показанной на фиг. 3, например, с использованием лазера. Тем самым больше не задается электрическая непрерывность между контактными выводами 51 затвора, соответственно, подключенными к первым, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора, и контактными выводами 51 затвора, соответственно, подключенными ко вторым, расположенным с правой стороны выбирающим межсоединениям 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора. Кроме того, расположенные с левой стороны соединительные межсоединения 75 1 -75 7 затвора обрезаются вдоль линии C обрезки, показанной на фиг. 4, например, с использованием лазера. Тем самым больше не задается электрическая непрерывность между контактными выводами 51 затвора, соответственно, подключенными к первым, расположенным с левой стороны выбирающим межсоединениям 72 1 , 72 3 , 72 5 и 72 7 затвора, и контактными выводами 51 затвора, соответственно, подключенными ко вторым, расположенным с левой стороны выбирающим межсоединениям 72 2 , 72 4 и 72 6 затвора.

Следует отметить, что, хотя пример, в котором соединительные межсоединения обрезаются вдоль линии C обрезки с использованием лазера, описан выше, соединительные межсоединения могут, в случае жидкокристаллической панели 1a, как показано на фиг. 5, например, разделяться одновременно как подложки с использованием дисковой фрезы, например, вдоль линии D разделения. В этом случае процесс изготовления жидкокристаллической панели упрощается, поскольку соединительные межсоединения не должны обрезаться вдоль линии C обрезки с использованием лазера. Кроме того, профиль жидкокристаллической панели, которая должна быть установлена в дисплейном устройстве, может уменьшаться, поскольку часть A подложки на фиг. 5, на которой формируются проверочные контактные площадки 70, 71, 81, 82, 87, 88, 90 и 91, отделяется.

После того, как процесс обрезания завершен, выполняется процесс монтажа для монтажа драйвера для возбуждения и управления межсоединениями 40 и 41 затвора и межсоединениями 42 истока в области 5 размещения контактных выводов. После этого отдельные жидкокристаллические панели 1 затем вырезаются из материнской платы. Оптическая пленка, такая как поляризатор, приклеивается к вырезанным жидкокристаллическим панелям 1. Таким образом, изготавливаются жидкокристаллические панели 1. Следует отметить, что способ изготовления жидкокристаллической панели 1 не ограничивается вышеописанным способом. Например, в монохромной жидкокристаллической панели цветные светофильтры не должны ламинироваться на противоположной подложке. Кроме того, процесс проверки и процесс монтажа могут выполняться после того, как отдельные жидкокристаллические панели вырезаны.

Как пояснено выше, согласно подложке 2 активной матрицы в настоящем варианте осуществления, короткие замыкания между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном слое (первыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями затвора, вторыми, расположенными с правой стороны выбирающими межсоединениями затвора, первыми, расположенными с левой стороны выбирающими межсоединениями затвора, вторыми, расположенными с левой стороны выбирающими межсоединениями затвора), могут достоверно обнаруживаться посредством простой конфигурации в случае, если выбирающие межсоединения формируются в каждом из множества слоев.

Второй вариант осуществления

Фиг. 6 изображает укрупненный вид части, идентичной части E 1 , показанной на фиг. 1. Как показано на фиг. 6, резистивный элемент R дополнительно подключается к каждому из расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора согласно настоящему варианту осуществления. Здесь, резистивные элементы R, например, создаются посредством шаблонов, сформированных посредством ITO, IZO и т.п., чтобы использоваться в качестве пиксельных электродов, шаблонов, сформированных посредством полупроводниковой пленки на основе TFT, диодов, транзисторов, произвольных шаблонов и т.п. Следует отметить, что резистивный элемент R также дополнительно подключается к каждому из расположенных с левой стороны соединительных межсоединений 75 1 -75 7 затвора согласно настоящему варианту осуществления.

В дальнейшем в этом документе описываются соответствующие случаи расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора и расположенных с правой стороны объединенных межсоединений 65 1 -65 4 , причем описание аналогично применимо к случаям расположенных с левой стороны соединительных межсоединений 75 1 -75 7 затвора и расположенных с левой стороны объединенных межсоединений 76 1 -76 4 .

Таким образом, поскольку резистивные элементы R подключаются к каждым из расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 -65 4 могут обрезаться вместо расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора в процессе обрезания. В частности, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 -65 4 обрезаются, например, с использованием лазера вдоль контура C, показанного на фиг. 6. Следует отметить, что аналогично варианту осуществления 1, расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 -65 4 могут быть разделены одновременно как подложки с использованием дисковой фрезы, например, вдоль линии разделения.

Таким образом, в настоящем варианте осуществления, поскольку расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 -65 4 обрезаются, количество межсоединений, которые должны обрезаться, меньше, чем в случае, если расположенные с правой стороны соединительные межсоединения 64 1 -64 7 затвора обрезаются, как, к примеру, в варианте осуществления 1. Как результат, может сокращаться фактическое время в процессе обрезания.

В настоящем варианте осуществления электрическая непрерывность должна устанавливаться между контактными выводами 51 затвора, к которым первые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 1 , 61 3 , 61 5 и 61 7 затвора, соответственно, подключаются, и контактными выводами 51 затвора, к которым вторые, расположенные с правой стороны выбирающие межсоединения 61 2 , 61 4 и 61 6 затвора, соответственно, подключаются, даже если расположенные с правой стороны объединенные межсоединения 65 1 -65 4 обрезаются. Тем не менее, если значения резистивных элементов R, соответственно, подключенных к расположенным с правой стороны соединительным межсоединениям 64 1 -64 7 затвора, заданы достаточно высокими, то работа электронного устройства является беспроблемной даже в случае, если жидкокристаллическая панель 1, согласно настоящему варианту осуществления, включена в электронное устройство. Кроме того, даже в процессе проверки для проверки состояния электрического подключения жидкокристаллической панели 1, проверка может выполняться без проблем, поскольку сигнал проверки должен вводиться только из каждой проверочной контактной площадки так, что различные межсоединения (межсоединения затвора, межсоединения истока, выбирающие межсоединения и т.д.) достигают требуемого потенциала.

В частности, электрическое влияние, принимаемое из смежных межсоединений, уменьшается, если значение резистивных элементов R составляет от нескольких десятков до нескольких сотен мегомов. Более конкретно, влияние изменения потенциала не более нескольких процентов (например, 1%) принимается. Если изменение потенциала находится в пределах нескольких процентов, то влияние электродов элементов изображений на отображение и скорость заряда является пренебрежимо малым. Если значение резистивных элементов R составляет от нескольких десятков до нескольких сотен мегомов, то работа электронного устройства является беспроблемной даже в случае, если жидкокристаллическая панель 1 согласно настоящему варианту осуществления включена в электронное устройство. Если значение резистивных элементов R превышает несколько сотен мегомов, исключение заряда, накопленного в межсоединениях и электродах элементов изображений после выполнения процесса проверки, становится проблематичным. Как результат, короткое замыкание или разъединение межсоединений, изменения в характеристиках TFT или MIM и т.п. возникают вследствие заряда, накопленного в межсоединениях и электродах элементов изображений, и качество отображения ухудшается. Следовательно, значение резистивных элементов R предпочтительно составляет от нескольких десятков до нескольких сотен мегомов, как описано выше. Следует отметить, что значение резистивных элементов R произвольно выбирается из диапазона от нескольких десятков до нескольких сотен мегомов в зависимости от размера области 4 отображения и количества пикселов.

Поскольку резистивный элемент R подключается к каждому из расположенных с правой стороны соединительных межсоединений 64 1 -64 7 затвора, проникновение статического электричества в область 4 отображения может предотвращаться в результате выполнения посредством резистивных элементов R функции защитного элемента от статического электричества, в случае если статическое электричество проникает из первого, расположенного с правой стороны проверочного межсоединения 66 затвора, или второго, расположенного с правой стороны проверочного межсоединения 67 затвора. Качество отображения жидкокристаллической панели 1 тем самым повышается, как и объем выпуска годных жидкокристаллических панелей.

Следует отметить, что значение резистивных элементов R, подключенных к первым, расположенным с правой стороны соединительным межсоединениям 64 1 , 64 3 , 64 5 и 64 7 затвора, и значение резистивных элементов R, подключенных ко вторым, расположенным с правой стороны соединительным межсоединениям 64 2 , 64 5 и 64 6 затвора, предпочтительно практически совпадают. Таким образом, если значения резистивных элементов R, соответственно, подключенных к смежным соединительным межсоединениям, практически совпадают, то величины задержки сигналов проверки, которые должны вводиться в выбирающие межсоединения, соответствующие смежным соединительным межсоединениям, и в межсоединения затвора, соответствующие выбирающим межсоединениям, являются фактически эквивалентными. Если межсоединения на подложке 2 активной матрицы функционируют в штатном режиме, то фактически эквивалентное отображение должно выполняться для экрана дисплея жидкокристаллической панели 1. Другими словами, если фактически эквивалентное отображение не выполняется, инспектор может обнаруживать повреждение, которое, хотя и не приводит к разъединению, возникает в случаях, к примеру, когда ширина межсоединений является очень небольшой.

Следует отметить, что хотя пример, в котором резистивный элемент подключается к каждому из двух взаимно смежных соединительных межсоединений, описан в варианте осуществления 2, настоящее изобретение не ограничено этим. Таким образом, резистивные элементы должны подключаться, по меньшей мере, только к одним из взаимно смежных соединительных межсоединений.

Кроме того, в вариантах осуществления 1 и 2 описан пример, в котором общие электроды формируются на противоположной подложке, и общее напряжение прикладывается к общим электродам на противоположной подложке, но настоящее изобретение не ограничено этим. Например, настоящее изобретение может, естественно, также применяться к жидкокристаллической панели с режимом IPS (плоскостной коммутации), в которой общие электроды формируются на подложке активной матрицы. Здесь, передающие контактные площадки не должны формироваться на подложке активной матрицы жидкокристаллической панели с IPS-режимом. Настоящее изобретение может, естественно, также применяться к жидкокристаллической панели с режимом MVA (выравнивания по вертикали с многодоменной структурой), жидкокристаллической панели с режимом OCB (оптически компенсируемого отклонения луча) и т.п.

Кроме того, в вариантах осуществления 1 и 2 описан пример, в котором межсоединения истока R, межсоединения истока G и межсоединения истока B формируются в области отображения, но настоящее изобретение не ограничено этим. Таким образом, межсоединения затвора R, межсоединения затвора G и межсоединения затвора B могут формироваться в области отображения. В этом случае межсоединения истока не должны предоставляться в расчете на RGB.

Кроме того, может быть множество цветов, соответствующих пикселам, подключенным к каждому межсоединению затвора, и может быть множество цветов, соответствующих пикселам, подключенным к каждому межсоединению истока.

Кроме того, компоновка пикселов в области отображения не ограничена полосковым шаблоном. Например, может применяться так называемая дельта-компоновка, посредством которой шаг расположения сдвигается в каждой линии.

Кроме того, способ ввода сигналов проверки в межсоединения затвора и межсоединения истока не ограничен способами, проиллюстрированными на фиг. 1 и 5. Сигналы проверки могут вводиться в межсоединение затвора или межсоединение истока из проверочной контактной площадки через переключающий элемент, такой как TFT. Кроме того, возбуждающая схема межсоединений затвора и межсоединений истока может формироваться непосредственно на подложке активной матрицы. Эта возбуждающая схема может быть возбуждена во время проверки.

Дополнительно, в вариантах осуществления 1 и 2 описан пример, в котором проверочные контактные площадки формируются на подложке активной матрицы, но настоящее изобретение не ограничено этим. Например, может быть осуществлена конфигурация, в которой проверочные контактные площадки формируются на подложке, отличной от подложки активной матрицы, и только проверочные межсоединения, в которые могут вводиться сигналы проверки, подаваемые из проверочных контактных площадок, формируются на подложке активной матрицы.

Таким образом, настоящее изобретение не ограничивается вышеуказанными вариантами осуществления, и различные модификации являются возможными в рамках объема, заданного посредством формулы изобретения. Другими словами, варианты осуществления, комбинирующие технические средства, надлежащим образом модифицированные в рамках объема, заданного посредством формулы изобретения, включаются в технический объем настоящего изобретения.

Промышленная применимость

Как описано выше, настоящее изобретение является полезным в качестве подложки активной матрицы, дисплейного устройства, способа проверки подложки активной матрицы и способа проверки дисплейного устройства, которые предоставляют возможность достоверного обнаружения коротких замыканий между смежными выбирающими межсоединениями, сформированными в одном слое, посредством простой конфигурации в случае, если выбирающие межсоединения формируются в каждом из множества слоев.

Формула изобретения

1. Подложка активной матрицы, содержащая:

множество первых межсоединений, сформированных параллельно друг другу в области отображения;

множество вторых межсоединений, сформированных параллельно друг другу, и так, чтобы пересекать множество первых межсоединений в области отображения;

множество первых контактных выводов, размещенных в области размещения контактных выводов;

множество вторых контактных выводов, размещенных в области размещения контактных выводов;

множество первых выбирающих межсоединений, соединяющих множество первых межсоединений и множество первых контактных выводов соответственно, и

множество вторых выбирающих межсоединений, соединяющих множество вторых межсоединений и множество вторых контактных выводов соответственно,

при этом множество первых выбирающих межсоединений включает в себя множество третьих выбирающих межсоединений и множество четвертых выбирающих межсоединений, причем третьи выбирающие межсоединения сформированы в слое, идентичном слою, в котором сформированы первые межсоединения, по меньшей мере, часть четвертых межсоединений сформирована в слое, отличном от слоя, в котором сформированы первые межсоединения с размещенным между ними изоляционным материалом, причем и третьи выбирающие межсоединения, и четвертые выбирающие межсоединения сформированы попеременно в расчете на межсоединения в области периферийных межсоединений, которая отличается от области отображения и области размещения контактных выводов, и

при этом подложка активной матрицы содержит:

множество первых соединительных межсоединений, подключенных к множеству первых контактных выводов соответственно, к которым подключено множество третьих выбирающих межсоединений соответственно;

множество вторых соединительных межсоединений, подключенных к множеству первых контактных выводов соответственно, к которым подключено множество четвертых выбирающих межсоединений соответственно;

множество объединенных межсоединений, каждое из которых состоит из взаимно смежных первых соединительных межсоединений и вторых соединительных межсоединений, объединенных друг с другом;

причем первое общее межсоединение, по существу, соединяет объединенные межсоединения, которые не смежны друг с другом, из множества объединенных межсоединений; и

второе общее межсоединение, по существу, соединяет объединенные межсоединения, которые не смежны друг с другом и не подключены к первому общему межсоединению, из множества объединенных межсоединений.

2. Подложка активной матрицы по п.1,

в которой множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений обрезаны так, что электрическая непрерывность не устанавливается между множеством первых контактных выводов, к которым подключено множество третьих выбирающих межсоединений соответственно, и множеством первых контактных выводов, к которым подключено множество четвертых выбирающих межсоединений соответственно.

3. Подложка активной матрицы по п.1,

в которой резистивный элемент подключен к, по меньшей мере, одному из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения.

4. Подложка активной матрицы по п.3,

в которой резистивный элемент подключен к каждому из взаимно смежных первого соединительного межсоединения и второго соединительного межсоединения.

5. Подложка активной матрицы по п.4,

в которой резистивный элемент, подключенный к первому соединительному межсоединению, и резистивный элемент, подключенный ко второму соединительному межсоединению, имеют практически идентичное значение сопротивления.

6. Подложка активной матрицы по п.3,

в которой каждое из множества объединенных межсоединений обрезано.

7. Подложка активной матрицы по п.4,

в которой каждое из множества объединенных межсоединений обрезано.

8. Подложка активной матрицы по п.5,

в которой каждое из множества объединенных межсоединений обрезано.

9. Подложка активной матрицы по любому из пп.1-8,

в которой первые межсоединения являются межсоединениями затвора, а вторые межсоединения являются межсоединениями истока.

10. Подложка активной матрицы по любому из пп.1-8,

в которой первые межсоединения являются межсоединениями истока, а вторые межсоединения являются межсоединениями затвора.

11. Дисплейное устройство, содержащее подложку активной матрицы по любому из пп.1-8.

12. Дисплейное устройство, содержащее подложку активной матрицы по п.9.

13. Дисплейное устройство, содержащее подложку активной матрицы по п.10.

14. Дисплейное устройство по п.11, в котором дисплейное устройство является жидкокристаллическим дисплейным устройством.

15. Дисплейное устройство по п.12, в котором дисплейное устройство является жидкокристаллическим дисплейным устройством.

16. Дисплейное устройство по п.13, в котором дисплейное устройство является жидкокристаллическим дисплейным устройством.

17. Способ проверки подложки активной матрицы по п.1, содержащий этапы, на которых:

проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и

обрезают множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений после этапа проверки.

18. Способ проверки дисплейного устройства, включающего в себя подложку активной матрицы по п.1, содержащий этапы, на которых:

проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и

обрезают множество первых соединительных межсоединений и множество вторых соединительных межсоединений после этапа проверки.

19. Способ проверки подложки активной матрицы по любому из пп.3-5, содержащий этапы, на которых:

проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и

обрезают множество объединенных межсоединений после этапа проверки.

20. Способ проверки дисплейного устройства, включающего в себя подложку активной матрицы по любому из пп.3-5, содержащий этапы, на которых:

проверяют третьи выбирающие межсоединения и четвертые выбирающие межсоединения посредством ввода взаимно независимых сигналов проверки в первое общее межсоединение и второе общее межсоединение; и

обрезают множество объединенных межсоединений после этапа проверки.

РИСУНКИ